[发明专利]一种工件台动态性能检测方法有效
申请号: | 202110390099.0 | 申请日: | 2021-04-12 |
公开(公告)号: | CN113203549B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 魏劲松;刘星;郑金轮;高天宇;王璐 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 工件 动态 性能 检测 方法 | ||
1.一种工件台动态性能检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
a)在石英片上沉积一层激光图形化材料作为测试片(12);
b)将测试片(12)放置于待测工件台(13)上,并在该测试片(12)上刻写测试图形,完成对工件台(13)动态特性的速度、加速度、直线度、最小步距、往复运动特性、垂直度检测及重复定位检测;
c)对光刻后的测试片(12),进行选择性湿法刻蚀,形成具有微纳图形结构的图形层,并采用光学显微镜与原子力显微镜表征微纳刻写线段的结构;
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的速度检测,具体是:
设置工件台X轴或Y轴速度为v、加速度为0、工件台运动距离L、激光器频率f;
同时控制激光器刻写与工件台运动,通过测量刻写线段距离L1,计算工件台X轴或Y轴速度
通过测量多段线段距离L2、L3、…、Ln,计算工件台速度
计算工件台速度的均值方差σv2,公式如下:
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的加速度检测,具体是:
设置工件台X轴或Y轴初速度为0、工件台末速度为va1、工件台加速度a、工件台运动距离h、激光器频率f;
同时控制激光器刻写与工件台X轴或Y轴运动,通过测量加速段刻写线段间距h1、…、hm…,hn计算工件台X轴或Y轴加速度公式如下:
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的直线度检测,具体是:
设置工件台X轴或Y轴速度为vg,工件台运动距离Lg;
同时控制激光器刻写与工件台X轴或Y轴运动,通过图像处理运用最小二乘法将刻写线段拟合,进而得出上偏差和下偏差;
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的最小步距检测,具体是:
设置工件台X轴或Y轴速度为vh、加速度为0、工件台X轴或Y轴运动最小步距、激光器频率f;
同时控制激光器刻写与工件台X轴或Y轴运动,通过测量刻写线段距离s,计算工件台X轴或Y轴最小步距
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的往复运动特性检测,具体是:
设置工件台X轴或Y轴速度为vi、加速度为0、工件台X轴或Y轴运动距离Li、激光器频率为f;
同时控制激光器刻写与工件台X轴或Y轴往复运动,通过测量往复刻写线段线宽y11、y22,计算工件台X轴或Y轴往复运动特性k1,公式如下:
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的垂直度检测,具体是:
设置工件台X轴和Y轴速度为vj、加速度为0、工件台X轴和Y轴运动距离Lj、激光器频率为f;
同时控制激光器刻写与工件台在X轴上运动,然后同时控制激光器刻写与工件台在Y轴上运动,通过测量刻写线L的角度θ,计算工件台X轴和Y垂直度θ1,θ1=θ;
所述b)中通过刻写测试图形完成动态特性的重复定位精度检测中,具体是:
设置工件台X轴和Y轴速度为vk、加速度为0;
将工件台复位,设工件台当前坐标位置为A(0,0);
将工件台X轴移动距离α、工件台Y轴移动距离β,工件台所在位置为B1(α,β),当工件台停止运动时、控制激光器在B1(α,β)位置打点;
将工件台X轴移动距离K1α、工件台Y轴移动距离K2β,K1、K2为任意不为零的常数,此时工件台所在位置坐标为C((K1+1)α,(K2+1)β),然后将工件台X轴移动距离-K1α、工件台Y轴移动距离-K2β,此时工件台所在位置为B2(α1,β1),当工件台停止运动时、控制激光器在B2(α1,β1)位置打点;
改变常数K1、K2的大小,重复上述操作,控制激光器在B3(α2,β2)、…、Bn-1(αn-1,βn-1)位置打点,通过测量B1(α,β)、B2(α1,β1)、B3(α2,β2)、…、Bn-1(αn-1,βn-1)位置偏差,计算工件台重复定位精度工件台重复定位精度方差σα2、σβ2,公式如下:
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