[发明专利]基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法

说明书

本发明公开了一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法，涉及雷达信息处理技术领域。包括：对探测区域进行网格划分，设置初始的检测门限；对待检测数据进行门限检测和点迹提取处理；将每个点迹存入对应的网格中；若目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹容量门限，则调整目标网格的检测门限，重复上述步骤直到目标网格的点迹数量小于点迹容量门限。本发明提供的自适应门限检测方法，适用于非均匀的复杂背景下的点迹数量控制，可以控制网格内点迹数量保持在恒定范围，达到点迹级恒虚警率处理效果，不仅可以兼顾杂波区虚警抑制和非杂波区弱目标检测，同时还可以避免由于大量杂波点迹过滤导致的目标漏检。

技术领域

本发明涉及雷达信息处理技术领域，尤其涉及基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法。

背景技术

雷达信息处理主要包括信号处理和数据处理两部分，信号处理是对雷达的IQ数据经过脉压、干扰抑制、多普勒滤波和门限检测等处理后提取过门限回波数据，然后再按照点迹提取规则对分布在多个距离单元、俯仰/方位波位内属于同一目标的过门限回波数据进行检测凝聚处理，得到点迹数据后进行自动/半自动航迹起始与目标跟踪等数据处理。现代雷达系统中几乎均采用了自动航迹起始与跟踪处理算法，目标点迹的有效提取和虚假点迹的有效抑制是保证真实目标航迹稳定输出的重要前提。

为了控制数据处理输入点迹的数量，在信息处理过程中常采用两种方式，一是在信号处理环节的门限检测模块进行背景自适应调控，减少过门限回波数量，例如经典的恒虚警率检测方法等；二是在数据处理环节对输入点迹进行判别标识与过滤，例如利用杂波点迹识别结果进行点迹过滤。然而，这两种方法均可以对点迹数量进行调控，但是在非均匀的复杂背景下，直接调整检测门限不能兼顾杂波区虚假点迹抑制和非杂波区的弱目标检测，在扇区点迹密度较大时，直接进行点迹过滤处理杂波点迹识别计算量较大且容易将目标漏检。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法、装置及存储介质。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：

一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法，包括：

S1，根据预设的尺度因子对探测区域进行网格划分，确定每个网格的网格号，并设置每个网格初始的检测门限；

S2，获取待检测数据，根据所述检测门限对所述待检测数据进行门限检测，得到过门限数据；

S3，对所述过门限数据进行点迹提取处理，提取点迹信息，所述点迹信息包括点迹的位置信息和点迹质量；

S4，根据所述位置信息确定每个点迹所在网格的网格号，根据每个点迹所在网格的网格号将每个点迹存入对应的网格中；

S5，确定当前扫描周期更新后的每个网格的点迹数量，若目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹剔除门限，但小于预设的点迹容量门限，则执行步骤S6和步骤S7；若所述目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹容量门限，则调整所述目标网格的检测门限，重复执行步骤S2至步骤S5，直到所述目标网格的点迹数量小于所述点迹容量门限；

S6，根据所述点迹质量对所述目标网格内的全部点迹进行排序，按照点迹质量从低到高的顺序剔除点迹，使所述目标网格内的点迹数量小于或等于所述点迹剔除门限；

S7，输出所述目标网格内的点迹；

其中，所述目标网格为所述探测区域内全部网格中的任意一个网格。

本发明解决上述技术问题的另一种技术方案如下：

一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如上述技术方案所述的基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法。

一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测装置，包括：