[发明专利]基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法有效

专利信息
申请号: 202110389645.9 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN113093121B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 夏永红;马心宇;张哲敏;陈楠;薛雨雨 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G01S7/36 分类号: G01S7/36;G01S7/35
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 赖定珍
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 密度 反馈 自适应 门限 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法,其特征在于,包括:

S1,根据预设的尺度因子对探测区域进行网格划分,确定每个网格的网格号,并设置每个网格初始的检测门限;

S2,获取待检测数据,根据所述检测门限对所述待检测数据进行门限检测,得到过门限数据;

S3,对所述过门限数据进行点迹提取处理,提取点迹信息,所述点迹信息包括点迹的位置信息和点迹质量;

S4,根据所述位置信息确定每个点迹所在网格的网格号,根据每个点迹所在网格的网格号将每个点迹存入对应的网格中;

S5,确定当前扫描周期更新后的每个网格的点迹数量,若目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹剔除门限,但小于预设的点迹容量门限,则执行步骤S6和步骤S7;若所述目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹容量门限,则调整所述目标网格的检测门限,重复执行步骤S2至步骤S5,直到所述目标网格的点迹数量小于所述点迹容量门限;

S6,根据所述点迹质量对所述目标网格内的全部点迹进行排序,按照点迹质量从低到高的顺序剔除点迹,使所述目标网格内的点迹数量小于或等于所述点迹剔除门限;

S7,输出所述目标网格内的点迹;

其中,所述目标网格为所述探测区域内全部网格中的任意一个网格。

2.根据权利要求1所述的基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法,其特征在于,根据预设的尺度因子对探测区域进行网格划分,具体包括:

确定所述探测区域的距离范围[Rmin,Rmax]、方位范围[Amin,Amax]和俯仰范围[Emin,Emax];

根据预设的尺度因子确定网格的大小,所述网格的大小为NRRres×NAAres×NEEres

根据所述网格的大小将所述探测区域划分为NGrid_R×NGrid_A×NGrid_E个网格,其中:

NR为距离尺度因子,NA为方位尺度因子,NE为俯仰尺度因子,Rres为距离分辨单元的大小,Ares为方位分辨单元的大小,Eres为俯仰分辨单元的大小,表示向上取整。

3.根据权利要求1所述的基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法,其特征在于,根据以下公式确定第i个点迹所在网格的网格号:

其中,NGrid_R_i为距离网格号,NGrid_R_i为方位网格号,NGrid_R_i为俯仰网格号,为第i个点迹的距离,为第i个点迹的方位,为 第i个点迹的仰角,i=1,…,Nplot,Nplot为提取到的点迹数量,NR为距离尺度因子,NA为方位尺度因子,NE为俯仰尺度因子,Rres为距离分辨单元的大小,Ares为方位分辨单元的大小,Eres为俯仰分辨单元的大小,表示向上取整,Rmin为探测区域的距离范围的最小值,Amin为探测区域的方位范围的最小值,Emin为探测区域的俯仰范围的最小值。

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