[发明专利]弹性波装置及复合滤波器装置在审
申请号: | 202110374862.0 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113541639A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 中泽秀太郎;岩本英树;大门克也 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H03H9/64 | 分类号: | H03H9/64;H03H9/05 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李国华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 弹性 装置 复合 滤波器 | ||
1.一种弹性波装置,具备:
面取向为(111)的硅基板;
设置在所述硅基板上的氮化硅层;
设置在所述氮化硅层上的氧化硅层;
设置在所述氧化硅层上的钽酸锂层;以及
设置在所述钽酸锂层上的IDT电极,
所述弹性波装置具有谐振频率,
将由所述IDT电极的电极指间距规定的波长设为λ、将所述氮化硅层的厚度设为SiN[λ]、将所述氧化硅层的厚度设为SiO2[λ]、将所述钽酸锂层的厚度设为LT[λ]、将所述钽酸锂层的欧拉角设为(LTφ[deg.],LTθ[deg.],LTφ[deg.])时,所述SiN[λ]、所述SiO2[λ]、所述LT[λ]及所述LTθ[deg.]是通过下述的式1导出的第一高阶模式的相位成为-20[deg.]以下的范围内的厚度及角度,
[数1]
相位[deg.]=
6047.63520371535-3073.77179344486×(″LT[λ]″)-150.043164693716×(″LTθ[deg.]″)+85.8474275079871×(″SiO2[λ]″)+122.520263077834×(″SiN[λ]″)+13410.0503377046×(″LT[λ]″)2-22919.3322354524×(″LT[λ]″)3+1.23679341913702×(″LTθ[deg.]″)2-0.00339999845069541×(″LTθ[deg.]″)3+8.82482069182538×(″LT[λ]″)×(″LTθ[deg.}″)-693.691058668391×(″LT[λ]″)×(″SiN[λ]″)…式1。
2.根据权利要求1所述的弹性波装置,其中,
所述SiN[λ]、所述SiO2[λ]、所述LT[λ]及所述LTθ[deg.]是通过所述式1导出的所述第一高阶模式的相位成为-73[deg.]以下的范围内的厚度及角度。
3.根据权利要求1或2所述的弹性波装置,其中,
在将所述硅基板的欧拉角设为(-45[deg.],-54.7[deg.],SiΨ[deg.])时,0[deg.]≤SiΨ[deg.]≤30[deg.],
LT[λ]≤0.179[λ],
所述SiN[λ]、所述SiO2[λ]、所述LT[λ]、所述LTθ[deg.]及所述SiΨ[deg.]是通过下述的式2导出的第二高阶模式的相位成为-70[deg.]以下的范围内的厚度及角度,
[数2]
相位[deg.]=
(-205.883644685925)+127.798701342823×(″LT[λ]″)+2.15277969099328×(″LTθ[deg.]″)-102.612816079968×(″SiO2[λ]″)-0.224847505825644×(”Siψ[deg.]″)-51.4047137303909×(″SiN[λ]″)-0.00890818181751331×(″LTθ[deg.]″)2+307.622195727849×(″SiO2[λ]″)2-0.00758239200722899×(″Siψ[deg.]″)2+77.4266396390485×(″SiN[λ]″)2-181.250917094982×(″LT[λ]″)×(″SiN[λ]″)+1.30355347496229×(″Siψ[deg.]″)×(″SiN[λ]″)…式2。
4.根据权利要求3所述的弹性波装置,其中,
所述SiN[λ]、所述SiO2[λ]、所述LT[λ]、所述LTθ[deg.]及所述SiΨ[deg.]是通过所述式2导出的所述第二高阶模式的相位成为-82[deg.]以下的范围内的厚度及角度。
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