[发明专利]脉状地质体建模方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 202110353957.4 | 申请日: | 2021-04-01 |
公开(公告)号: | CN113011040B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 钟德云;张炬;王李管;贾明滔;毕林 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 长沙瀚顿知识产权代理事务所(普通合伙) 43223 | 代理人: | 吴亮;朱敏 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 质体 建模 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种脉状地质体建模方法,其特征在于,包括:
基于建模初始数据确定分类插值约束条件,所述分类插值约束条件包括:上层面插值约束条件和下层面插值约束条件;
基于所述上层面插值约束条件求解上层面对应的第一隐式函数及基于所述下层面插值约束条件求解下层面对应的第二隐式函数;
分别求取所述第一隐式函数的等值面对应的第一模型及所述第二隐式函数的等值面对应的第二模型;
对所述第一模型及所述第二模型进行拼接,得到表征所述脉状地质体的拼接模型;
所述方法还包括:
获取所述脉状地质体的最小厚度约束及最大厚度约束中至少一个;
相应地,所述分别求取所述第一隐式函数的等值面对应的第一模型及所述第二隐式函数的等值面对应的第二模型,包括:
若获取到所述最小厚度约束,则分别基于所述最小厚度约束进行校正后的等值面提取所述第一模型和所述第二模型;
若获取到所述最大厚度约束,则分别基于所述最大厚度约束进行校正后的等值面提取所述第一模型和所述第二模型;
若获取到所述最小厚度约束和所述最大厚度约束,则求取所述第一隐式函数、所述第二隐式函数分别基于所述最小厚度约束进行校正后的等值面提取对应的第一子模型、第二子模型;
求取所述第一隐式函数、所述第二隐式函数分别基于所述最大厚度约束进行校正后的等值面提取对应的第三子模型、第四子模型;
对所述第一子模型和所述第三子模型进行并集处理,得到所述第一隐式函数的等值面对应的第一模型;
对所述第二子模型和所述第四子模型进行并集处理,得到所述第二隐式函数的等值面对应的第二模型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于建模初始数据确定分类插值约束条件,包括:
若所述建模初始数据包括:指示钻孔样段类型的第一采样数据,则对所述第一采样数据基于拟合插值的方法构造平均面,并基于各钻孔样段的端点与所述平均面的有符号距离确定所述分类插值约束条件;
若所述建模初始数据包括:指示轮廓线类型的第二采样数据,则基于轮廓线分割确定所述分类插值约束条件。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一模型及所述第二模型进行拼接,包括:
基于布尔运算方法对所述第一模型和所述第二模型进行拼接。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对所述拼接模型基于设定的裁剪边界约束进行模型修复,得到修复后的地质体模型。
5.一种脉状地质体建模装置,其特征在于,包括:
插值约束确定模块,用于基于建模初始数据确定分类插值约束条件,所述分类插值约束条件包括:上层面插值约束条件和下层面插值约束条件;
分层确定模块,用于基于所述上层面插值约束条件求解上层面对应的第一隐式函数及基于所述下层面插值约束条件求解下层面对应的第二隐式函数;
分层建模模块,用于分别求取所述第一隐式函数的等值面对应的第一模型及所述第二隐式函数的等值面对应的第二模型;
拼接模块,用于对所述第一模型及所述第二模型进行拼接,得到表征所述脉状地质体的拼接模型;
所述脉状地质体建模装置还包括:
获取模块,用于获取所述脉状地质体的最小厚度约束及最大厚度约束中至少一个;
所述分层建模模块具体用于:
若获取到所述最小厚度约束,则分别基于所述最小厚度约束进行校正后的等值面提取所述第一模型和所述第二模型;
若获取到所述最大厚度约束,则分别基于所述最大厚度约束进行校正后的等值面提取所述第一模型和所述第二模型;
若获取到所述最小厚度约束和所述最大厚度约束,则求取所述第一隐式函数、所述第二隐式函数分别基于所述最小厚度约束进行校正后的等值面提取对应的第一子模型、第二子模型;
求取所述第一隐式函数、所述第二隐式函数分别基于所述最大厚度约束进行校正后的等值面提取对应的第三子模型、第四子模型;
对所述第一子模型和所述第三子模型进行并集处理,得到所述第一隐式函数的等值面对应的第一模型;
对所述第二子模型和所述第四子模型进行并集处理,得到所述第二隐式函数的等值面对应的第二模型。
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