[发明专利]一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置

说明书

本发明公开了一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，包括：底板；第一夹板，所述第一夹板设置在所述底板上，所述第一夹板上设置有多个第一夹紧孔；第二夹板，所述第二夹板滑动设置在第一夹板上，第二夹板上设置有多个与第一夹紧孔相匹配的第二夹紧孔；两限位块，两所述限位块设置在底板上相对的两侧，第一夹板和第二夹板位于两限位块之间。该半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，解决了现有夹紧定位方式存在夹紧程度难以控制以及工作效率低的问题。

技术领域

本发明属于半导体检测设备加工技术领域，具体涉及一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置。

背景技术

近年来，随着半导体行业的高速发展，测试探针也得到了广泛应用。测试探针主要用于电子产品的电学性能检测，随着电子产品的发展，已在航空、航天、军工、医疗、光电类等领域得到了广泛应用，在现代化科技发展的过程中起到了较大作用。

测试探针加工时，需要对其进行磨斜面加工，磨斜面主要是通过磨具进行的。在进行磨斜面的过程中需要对测试探针进行夹紧定位，以确保其在磨斜面的过程中不会发生松动，影响磨斜面的精度。

但是目前对测试探针进行夹紧定位主要是通过人借助夹具完成的，这种作业方式存在以下缺陷：

（1）人的施力大小不宜控制，过大容易夹坏测试探针，过小难以夹紧测试探针，测试探针在磨斜面的过程中容易发生偏移，影响被磨斜面的精度；（2）每次只能夹紧定位一个测试探针，完成一个需要更换另一个，工作效率较低，无法适应大规模的工业化生产。

发明内容

本发明的目的是提供一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，解决现有夹紧定位方式存在夹紧程度难以控制以及工作效率低的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，包括：

底板；

第一夹板，所述第一夹板设置在所述底板上，所述第一夹板上设置有多个第一夹紧孔；

第二夹板，所述第二夹板滑动设置在第一夹板上，第二夹板上设置有多个与第一夹紧孔相匹配的第二夹紧孔；

两限位块，两所述限位块设置在底板上相对的两侧，第一夹板和第二夹板位于两限位块之间。

作为本发明的一种优选的技术方案，两所述限位块上均设置有调节螺丝。

作为本发明的一种优选的技术方案，两所述限位块上均设置有两固定螺丝，两所述固定螺丝位于对应调节螺丝的两侧，每个固定螺丝的端部均设置有压缩弹簧。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述底板另一相对的两侧分别设置有限位侧板，所述第一夹板和第二夹板位于两限位侧板之间。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述第一夹板的两侧分别设置有与压缩弹簧和调节螺丝相匹配的限位槽。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述第一夹紧孔和所述第二夹紧孔均为斜孔。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述限位块上设置有多个用于装配调节螺丝和固定螺丝的退位槽。

本发明的有益效果是：（1）本发明的一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，采用第一夹板和第二夹板中同心设置的第一夹紧孔和第二夹紧孔对测试探针实施错位装夹，通过精确控制第二夹板在第一夹板上的滑动位移，可实现对测试探针夹紧力度的控制，避免了力度过大过小的问题；（2）本发明的一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，可一次性完成多个测试探针的装夹，工人无需完成一个更换一个，大大缩短了加工作业的时间，使得生产能够使用大规模的工业化作业模式；（3）本发明的一种半导体测试探针用磨斜面夹紧定位装置，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。

附图说明