[发明专利]针卡结构和测试设备

说明书

本申请提供的针卡结构和测试设备，涉及测试技术领域。在本申请中，针卡结构包括支撑结构和连接结构。支撑结构包括在第一方向上相对设置的第一部分和第二部分，第一部分包括在第二方向上依次排列的多个第一凹槽结构，第二部分包括在第二方向上依次排列的多个第二凹槽结构，第一方向不同于第二方向。连接结构包括第一电连接结构和第二电连接结构，每一个第一电连接结构与多个第一凹槽结构中的一个第一凹槽结构对应且至少部分位于第一凹槽结构内，每一个第二电连接结构与多个第二凹槽结构中的一个第二凹槽结构对应且至少部分位于第二凹槽结构内。基于此，可以改善现有技术中针卡的结构稳定性难以得到有效保障的问题。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种针卡结构和测试设备。

背景技术

为了保证显示器件中的显示面板的正常工作，一般会对显示面板进行测试。其中，在测试之前一般需要通过针卡将显示面板与测试器件电连接，以实现驱动信号和测试信号的传输。但是，经发明人长期研究发现，显示器件中的显示面板能够与针卡电连接的结构(如焊盘)所占的区域较小，进而使得针卡上对应结构的面积也较小。如此，在保障该对应结构能够有效使用的基础上，难以进一步保障针卡的结构稳定性。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种针卡结构和测试设备，以改善现有技术中针卡的结构稳定性难以得到有效保障的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用如下技术方案：

一种针卡结构，包括：

支撑结构，所述支撑结构至少包括在第一方向上相对设置的第一部分和第二部分，所述第一部分包括在第二方向上依次排列的多个第一凹槽结构，所述第二部分包括在所述第二方向上依次排列的多个第二凹槽结构，所述第一方向不同于所述第二方向；

连接结构，所述连接结构包括多个第一电连接结构和多个第二电连接结构，每一个所述第一电连接结构与所述多个第一凹槽结构中的一个第一凹槽结构对应且至少部分位于所述第一凹槽结构内，每一个所述第二电连接结构与所述多个第二凹槽结构中的一个第二凹槽结构对应且至少部分位于所述第二凹槽结构内。

基于上述实施例，第一部分和第二部分由于在第一方向上相对设置，因而，在第二方向上可以相互不影响，使得可以根据对针卡结构的结构稳定性需求对第一部分上的第一凹槽结构与第一部分的端部之间的距离进行配置，并对第二部分上的第二凹槽结构与第二部分的端部之间的距离进行配置，从而保障针卡结构的结构稳定性。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述针卡结构中，所述第一电连接结构包括位于所述第一凹槽结构内的第一区域和位于所述第一凹槽结构外的第二区域，所述第一电连接结构从所述第一凹槽结构沿靠近所述第二部分的方向延伸；和/或

所述第二电连接结构包括位于所述第二凹槽结构内的第三区域以及位于所述第二凹槽结构外的第四区域，所述第二电连接结构从所述第二凹槽结构沿靠近所述第一部分的方向延伸。

基于上述实施例，由于第一电连接结构包括位于第一凹槽结构外的第二区域，和/或，第二电连接结构包括位于第二凹槽结构外的第四区域，使得第一电连接结构或第二电连接结构在使用中便于与其它结构电连接。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述针卡结构中，所述第一电连接结构在所述第二方向上的正投影与所述第二电连接结构在所述第二方向上的正投影之间相互不重叠。

在本申请实施例较佳的选择中，在上述针卡结构中，沿所述第二方向排列的所述多个第一凹槽结构中的第一个第一凹槽结构与所述第一部分中靠近所述第一个第一凹槽结构的端部之间的距离大于或等于200um，沿所述第二方向排列的所述多个第一凹槽结构中的最后一个第一凹槽结构与所述第一部分中靠近所述最后一个第一凹槽结构的端部之间的距离大于或等于200um；和/或