[发明专利]误差消除方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110328512.0 | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113081267B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 张逸凌;刘星宇 | 申请（专利权）人： | 北京长木谷医疗科技有限公司;长木谷医疗科技（青岛）有限公司;张逸凌 |
| 主分类号： | A61B34/20 | 分类号： | A61B34/20;A61B34/10 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王宇杨 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区荣华南*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 误差 消除 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种误差消除方法，其特征在于，包括：
采集多个配准点的信息，所述配准点的信息包括目标器械在第一配准点的位置坐标与第一追踪架在采集第一配准点时的位置矩阵；其中，所述第一追踪架安装在与所述目标器械邻近的刚性物体上；所述第一配准点为所述多个配准点中的任意一个；
根据第一追踪架在采集第一配准点时的位置矩阵以及预先确定的第一追踪架在配准准备状态下的位置矩阵，计算第一配准点的误差矩阵；
根据目标器械在第一配准点的位置坐标以及所述第一配准点的误差矩阵，计算目标器械在第一配准点的误差消除后的位置坐标。
2.根据权利要求1所述的误差消除方法，其特征在于，在采集多个配准点的信息之前，方法还包括：
在配准准备状态下，获取第一追踪架的位置矩阵。
3.根据权利要求1或2所述的误差消除方法，其特征在于，所述根据第一追踪架在采集第一配准点时的位置矩阵以及预先确定的第一追踪架在配准准备状态下的位置矩阵，计算第一配准点的误差矩阵的计算公式为：
Mp*Mdiff＝MI；
其中，Mp为第一追踪架在配准准备状态下的位置矩阵；MI为第一追踪架在采集第一配准点时的位置矩阵；Mdiff为第一配准点的误差矩阵。
4.根据权利要求1或2所述的误差消除方法，其特征在于，所述根据目标器械在第一配准点的位置坐标以及所述第一配准点的误差矩阵，计算目标器械在第一配准点的误差消除后的位置坐标的计算公式为：
Pi_o*Mdiff＝PI；
其中，Pi_o为目标器械在第一配准点的误差消除后的位置坐标；PI为目标器械在第一配准点的位置坐标；Mdiff为第一配准点的误差矩阵。
5.根据权利要求1或2所述的误差消除方法，其特征在于，所述多个配准点的数量为大于或等于3。
6.根据权利要求2所述的误差消除方法，其特征在于，所述在配准准备状态下，记录第一追踪架的位置矩阵，包括：
在配准准备状态下，通过光学定位跟踪系统测量并记录第一追踪架的位置矩阵。
7.一种误差消除装置，其特征在于，包括：
配准点信息采集模块，用于采集多个配准点的信息，所述配准点的信息包括目标器械在第一配准点的位置坐标与第一追踪架在采集第一配准点时的位置矩阵；其中，所述第一追踪架安装在与所述目标器械邻近的刚性物体上；所述第一配准点为所述多个配准点中的任意一个；
误差矩阵计算模块，用于根据第一追踪架在采集第一配准点时的位置矩阵以及预先确定的第一追踪架在配准准备状态下的位置矩阵，计算第一配准点的误差矩阵；
误差消除模块，用于根据目标器械在第一配准点的位置坐标以及所述第一配准点的误差矩阵，计算目标器械在第一配准点的误差消除后的位置坐标。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述误差消除方法的步骤。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述误差消除方法的步骤。
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