[发明专利]一种提高中频采样信号稳定性的方法和装置有效

专利信息
申请号: 202110324546.2 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN112946594B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 张达凯;刘胤凯;李熙民;苗苗;冯孝斌;沈小玲;张云;冯雨;王晓;邵景星;李万珅 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 周娇娇
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 提高 中频 采样 信号 稳定性 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种提高中频采样信号稳定性的方法,其特征在于,包括:

根据系统采样参数计算信号整数采样点位置;

计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差;

根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出;

所述根据系统采样参数计算信号整数采样点位置,包括通过以下公式计算:

其中,P为信号整数采样点位置,f0为数字采样中心频点,Fs为系统采样率,N为采样点数,(*)表示对数值进行四舍五入取整数;

所述计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差,包括通过以下公式计算:

其中,E为中频采样频点误差,P为信号整数采样点位置,f0为数字采样中心频点,Fs为系统采样率,N为采样点数;

所述根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出,包括通过以下公式计算:

ft=ft0±E

其中,ft0为修正前的信号源射频频率,ft为修正后的信号源射频频率,E为中频采样频点误差。

2.一种提高中频采样信号稳定性的装置,其特征在于,包括:

整数采样点位置计算模块,用于根据系统采样参数计算信号整数采样点位置;

中频采样频点误差计算模块,用于计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差;

频率修正模块,用于根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出;

所述整数采样点位置计算模块用于通过以下公式计算信号整数采样点位置:

其中,P为信号整数采样点位置,f0为数字采样中心频点,Fs为系统采样率,N为采样点数,(*)表示对数值进行四舍五入取整数;

所述中频采样频点误差计算模块用于通过以下公式计算中频采样频点误差:

其中,E为中频采样频点误差,P为信号整数采样点位置,f0为数字采样中心频点,Fs为系统采样率,N为采样点数;

所述频率修正模块用于通过以下公式计算修正后的信号源射频频率:

ft=ft0±E

其中,ft0为修正前的信号源射频频率,ft为修正后的信号源射频频率,E为中频采样频点误差。

3.一种提高中频采样信号稳定性的装置,其特征在于,包括:至少一个存储器和至少一个处理器;

所述至少一个存储器,用于存储机器可读程序;

所述至少一个处理器,用于调用所述机器可读程序,执行权利要求1所述的方法。

4.一种计算机可读介质,其特征在于,所述计算机可读介质上存储有计算机指令,所述计算机指令在被处理器执行时,使所述处理器执行权利要求1所述的方法。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所,未经北京环境特性研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110324546.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top