[发明专利]交变磁场监测测量装置及系统在审
申请号: | 202110309398.7 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN113156344A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 李润生 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 034400 山西省*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁场 监测 测量 装置 系统 | ||
1.一种交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述装置包括:第一光纤、第二光纤、第一磁性条、第二磁性条、第一热膨胀部、第二热膨胀部和基底;所述第一光纤设置在所述基底的一侧,所述第一磁性条设置在所述第一光纤的外壁上,所述第二光纤为弯折光纤,所述第二光纤的形状为“U”形,“U”形的所述第二光纤的底部与所述第一光纤远离基底一侧的面相切设置,所述第二磁性条设置在所述第二光纤的外壁上,所述第一热膨胀部和所述第二热膨胀部设置在所述第一光纤和所述第二光纤之间,且所述第一热膨胀部和所述第二热膨胀部均设置在“U”形的所述第二光纤的两侧,用于支撑所述第二光纤,且所述第一热膨胀部和所述第二热膨胀部靠近“U”形的所述第二光纤的底部的高度低于远离“U”形的所述第二光纤的底部的高度。
2.根据权利要求1所述的交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述装置还包括金属颗粒层,所述金属颗粒层设置在所述第一光纤靠近所述第二光纤的一侧。
3.根据权利要求2所述的交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述金属颗粒层的材料为贵金属材料。
4.根据权利要求3所述的交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述金属颗粒层的材料为金、银、钌、铑、钯、锇、铱、铂中至少一种。
5.根据权利要求4所述的交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述第一热膨胀部和所述第二热膨胀部均包括多个条形结构。
6.根据权利要求5所述的交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述装置还包括第三热膨胀部,所述第三热膨胀部设置在所述第二光纤远离所述第一光纤的一侧,且所述第三热膨胀部在所述基底上的投影远离所述第一热膨胀部和所述第二热膨胀部在所述基底上的投影。
7.根据权利要求6所述的交变磁场监测测量装置,其特征在于,所述第一热膨胀部、所述第二热膨胀部和所述第三热膨胀部的材料均为Fe3O4。
8.一种交变磁场监测测量系统,其特征在于,所述系统包括:第一光源、第二光源、第一光谱仪、第二光谱仪、计算机和权利要求1-7任意一项所述的交变磁场监测测量装置,所述第一光源和所述第一光谱仪分别设置在所述交变磁场监测测量装置中的第一光纤的两侧,所述第二光源和所述第二光谱仪分别设置在所述交变磁场监测测量装置中的第二光纤的两侧,所述计算机分别与所述第一光谱仪和所述第二光谱仪连接,用于获取所述第一光谱仪和所述第二光谱仪检测的所述第一光纤和所述第二光纤的输出光信号的光谱,并根据所述输出光信号的光谱得到所述第一光纤和所述第二光纤的透射率改变情况,并根据所述第一光纤和所述第二光纤的透射率改变情况与待测交变磁场的强度的对应关系,得到待测交变磁场的强度。
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