[发明专利]一种起落架形变程度的测量方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202110307727.4 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113032906A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 王贤宇;印明威;海日汗;包长春;徐震翰;李京阳 | 申请（专利权）人： | 北京清航紫荆装备科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/15 | 分类号： | G06F30/15;G06F30/20;G01B21/32;B64F5/60 |
| 代理公司： | 北京信远达知识产权代理有限公司 11304 | 代理人： | 姚莹丽 |
| 地址： | 102101 北京市延*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 起落架 形变 程度 测量方法 装置 设备 介质 | ||
1.一种起落架形变程度的测量方法，其特征在于，包括：
获取多个第一位置处的形变量，所述第一位置为所述起落架上已安装传感器的位置；
根据所述多个第一位置处的形变量、以及所述多个第一位置与所述至少一个第二位置之间的距离，确定所述至少一个第二位置处的形变量；所述第二位置为所述起落架上未安装传感器的位置；
根据所述至少一个第二位置处的形变量和所述多个第一位置处的形变量确定所述起落架的形变程度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个第二位置处的形变量和所述多个第一位置处的形变量确定所述起落架的形变程度，包括：
获取所述至少一个第二位置的权重以及所述多个第一位置的权重；
根据所述至少一个第二位置处的形变量和所述至少一个位置的权重确定第一形变程度；根据所述多个第一位置处的形变量和所述多个第一位置的权重确定第二形变程度；
根据所述第一形变程度和所述第二形变程度，确定所述起落架的形变程度。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多个第一位置的权重与所述第一位置到所述起落架中心区域的距离正相关。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述起落架的形变程度大于第一预设阈值时，进行预警。
5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述起落架7，生成禁止起飞指令。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二位置处的形变量通过如下公式获得：
其中，μv为所述第二位置处的形变量，xi为所述多个第一位置中第i个第一位置处的形变量，di为所述多个第一位置中第i个第一位置与所述第二位置之间的距离，m为所述第一位置的个数，N为幂参数。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二位置与所述第一位置之间的距离低于预设距离阈值。
8.一种起落架形变程度的测量装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取多个第一位置的形变量，所述第一位置为所述起落架上已安装传感器的位置；
预测模块，用于根据所述多个第一位置处的形变量、以及所述多个第一位置与所述至少一个第二位置之间的距离，确定所述至少一个第二位置处的形变量；所述第二位置为所述起落架上未安装传感器的位置；
计算模块，用于根据所述至少一个第二位置处的形变量和所述多个第一位置处的形变量确定所述起落架的形变程度。
9.一种设备，其特征在于，包括存储器和处理器；
所述存储器用于存储指令；
所述处理器用于执行所述指令，以使所述设备执行上述权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括指令，所述指令用于指示所述设备执行上述权利要求1至7中任一项所述的方法。
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