[发明专利]COA型阵列基板及其测量方法、液晶显示面板

说明书

本申请提供了一种COA型阵列基板及其测量方法、液晶显示面板，涉及显示技术领域，该COA型阵列基板，包括衬底基板，该COA型阵列基板还包括：显示区和环绕显示区的周边区，周边区包括多个测量区；在衬底基板上，每个测量区包括阵列排布的多个辅助测量图案层，每个辅助测量图案层的中部开设有辅助测量通孔；沿衬底基板的厚度方向，在辅助测量图案层远离衬底基板的一侧，测量区还设置有多个色阻单元，该COA型阵列基板通过去除薄膜晶体管层，仅设置中部开设有辅助测量通孔的辅助测量图案层，来作为测量色阻单元的参考物，从而可以通过减少干扰来提高测量准确度。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种COA型阵列基板及其测量方法、液晶显示面板。

背景技术

现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板和背光模组(backlight module)。液晶显示面板又通常由阵列基板(thin filmtransistor，TFT)、彩膜基板(color filter，CF)，设置于阵列基板和彩膜基板之间的液晶(liquid crystal，LC)以及封框胶(sealant)组成。

由于这种结构经常会出现彩膜基板与阵列基板对位不良的问题，因此，现有技术中提出将彩膜基板中的彩色滤光层设置到阵列基板上来，形成的阵列基板称为COA(colorfilter on array)型阵列基板。

为了满足客户的需求标准，需要对COA型阵列基板中的显示区进行监控，现有技术中就完全仿照显示区，在环绕显示区的周边区中制备一模一样的薄膜晶体管层和彩色滤光层，但是在测量时，受薄膜晶体管层各种结构的干扰，导致无法准确获取到彩色滤光层的数据，因此，亟待一种能提高准确度的新方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种COA型阵列基板及其测量方法、液晶显示面板，在测量区中，通过去除薄膜晶体管层，仅设置中部开设有辅助测量通孔的辅助测量图案层，来作为测量色阻单元的参考物，从而可以通过减少干扰来提高测量准确度。

为达到上述目的，本申请采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种COA型阵列基板，包括：衬底基板，所述COA型阵列基板还包括：显示区和环绕所述显示区的周边区，所述周边区包括多个测量区；在所述衬底基板上，每个测量区包括阵列排布的多个辅助测量图案层，每个辅助测量图案层的中部开设有辅助测量通孔；沿所述衬底基板的厚度方向，在所述辅助测量图案层远离所述衬底基板的一侧，所述测量区还设置有多个色阻单元；其中，在所述衬底基板所在的平面上，所述色阻单元的投影中心与对应的所述辅助测量图案层的投影中心、所述辅助测量图案层中的所述辅助测量通孔的投影中心均重合，且所述色阻单元的投影尺寸大于所述辅助测量通孔的投影尺寸。

本申请实施例提供的COA型阵列基板，在测量区中，通过去除薄膜晶体管层，仅在色阻单元和衬底基板之间设置中部开设有辅助测量通孔的辅助测量图案层，来作为测量色阻单元物理特性的参考物，从而可以减少薄膜晶体管层对色阻单元的干扰，提高色阻单元的测量准确度。

结合第一方面，作为一种可能的实现方式，在位于奇数列或偶数列的所述辅助测量图案层远离所述衬底基板的一侧，设置有所述色阻单元；或者，在位于奇数行或偶数行的所述辅助测量图案层远离所述衬底基板的一侧，设置有所述色阻单元；或者，在位于奇数行奇数列和偶数行偶数列的所述辅助测量图案层远离所述衬底基板的一侧，设置有所述色阻单元；或者，在位于奇数行偶数列和偶数行奇数列的所述辅助测量图案层远离所述衬底基板的一侧，设置有所述色阻单元。在该实现方式中，由于降低了色阻单元之间的密度，减少了色阻单元之间的互相干扰，提高了检测辅助测量图案层沿列方向延伸的对边的准确度。