[发明专利]一种基于SVM分类的工业部件表面轻微缺陷检测方法

权利要求书

1. 一种基于SVM分类的工业部件表面轻微缺陷检测方法，其检测步骤为：

S100、仿射变换

对部件表面缺陷的图像进行仿射变换；

S200、随机点遍历

对仿射变换后的图像分块并进行随机点遍历；

S300、缺陷识别

通过图像上的随机点进行缺陷识别运算：

S310、以随机点作为缺陷基准直线的中心点，统计经过此中心点每一条直线的黑色像素点个数；

S320、统计基准直线上的像素值，提取此基准直线两侧一定距离的两根直线，根据两根直线上的像素值求取两根直线的均值，并与基准直线的像素值进行比较；

S330、获得黑色像素点较多且与两根直线的均值差别较多的直线；

S400、SVM分类

根据缺陷检测结果和SVM分类法，获取准确度较高的超平面，判断是否存在缺陷。

2.如权利要求1所述的一种基于SVM分类的工业部件表面轻微缺陷检测方法，其特征在于：

步骤S100包括：

S110、采集图像并对其进行组装，作为原始输入图像；

S120、对输入的图像中的倾斜图像进行定位，并进行仿射变换。

3.如权利要求1所述的一种基于SVM分类的工业部件表面轻微缺陷检测方法，其特征在于：

步骤S200包括：

S210、对仿射变换后的图像进行分块，进行砂痕印提取算法，并行处理；

S220、对分块后的小图像采用蒙特卡罗随机取点法，以随机点作为基准点，基准点采用白色像素点标注，并对其进行遍历。

4.如权利要求1所述的一种基于SVM分类的工业部件表面轻微缺陷检测方法，其特征在于：

步骤S400包括：

S410、提取黑色像素点较多的多张图像；

S420、对多张图像进行SVM分类法，获取准确度较高的超平面，判断部件表面是否存在轻微缺陷。