[发明专利]一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法

说明书

本发明提供一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，涉及材料微观结构分析技术领域。该种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，包括以下具体内容：S1.将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中，关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，启动X射线单晶体衍射仪的X射线扫描机构，从而利用X射线扫描机构对待测材料的表面进行扫描和分析；S2.将X射线单晶体衍射仪扫描后得到的材料晶体结构数据导入计算机文件夹中存储备用；S3.将经过X射线扫描后的待测材料从X射线单晶体衍射仪中取出。通过设计简单的智能识别分析方法，不仅可以快速的分析材料的晶体结构以及相关缺陷，同时也能够结合图形信息观察材料表面成分的分布情况，从而使其整体的工作效率大大提高。

技术领域

本发明涉及材料微观结构分析技术领域，具体为一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法。

背景技术

材料是人类用来制造机器、构件、器件和其他产品的物质。但并不是所有物质都可称为材料，如燃料和化工原料、工业化学品、食物和药品等，一般都不算作材料。材料可按多种方法进行分类；按物理化学属性分为金属材料、无机非金属材料、有机高分子材料和复合材料。按用途分为电子材料、宇航材料、建筑材料、能源材料、生物材料等；实际应用中又常分为结构材料和功能材料。结构材料是以力学性质为基础，用以制造以受力为主的构件；结构材料也有物理性质或化学性质的要求，如光泽、热导率、抗辐照能力、抗氧化、抗腐蚀能力等，根据材料用途不同，对性能的要求也不一样。功能材料主要是利用物质的物理、化学性质或生物现象等对外界变化产生的不同反应而制成的一类材料；如半导体材料、超导材料、光电子材料、磁性材料等，微观结构，涉及到化学、生物学、物理学等诸多领域，是指物质、生物、细胞在显微镜下的结构，以及分子、原子甚至亚原子的结构。

材料微观结构的分析，是材料科学研究的一种，目前最为常见的材料微观结构分析方法有X射线分析法和光谱分析法，虽然X射线分析法能够用来分析材料的晶体结构以及相关缺陷，但由于其无法观察材料表面成分的分布情况，为此，我们研发出了新的一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，解决了虽然X射线分析法能够用来分析材料的晶体结构以及相关缺陷，但由于其无法观察材料表面成分的分布情况的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，包括以下具体内容：

S1.将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中，关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，启动X射线单晶体衍射仪的X射线扫描机构，从而利用X射线扫描机构对待测材料的表面进行扫描和分析；

S2.将X射线单晶体衍射仪扫描后得到的材料晶体结构数据导入计算机文件夹中存储备用；

S3.将经过X射线扫描后的待测材料从X射线单晶体衍射仪中取出，并将其放置在物理光学显微镜的载物架上，从而利用物理光学显微镜的放大成像原理，将材料表面的微观结构放大成像，并利用计算机设备截取其部分区域，形成图形信息，并导入计算机文件夹中进行保存；

S4.将材料晶体结构数据信息和利用光学显微镜放大成像得到的图形信息统一导入计算机材料分析软件中，根据光学显微镜放大成像得到的图形信息，将利用X射线扫描后得到的材料晶体结构数据信息进行信息裁剪，只保留图形信息部分的材料晶体结构数据；

S5.将处理后的材料晶体结构数据和图形信息利用计算机设备进行数据分析，从而将材料的图形结构以及晶体结构分析相结合，从而方便得到更加全面的材料表面成分的分布情况。

优选的，所述S1中在将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中后，除了需要关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，还需要利用遮挡设备隔绝设备外部光源。