[发明专利]一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法

权利要求书

1.一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，其特征在于：包括以下具体内容：

S1.将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中，关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，启动X射线单晶体衍射仪的X射线扫描机构，从而利用X射线扫描机构对待测材料的表面进行扫描和分析；

S2.将X射线单晶体衍射仪扫描后得到的材料晶体结构数据导入计算机文件夹中存储备用；

S3.将经过X射线扫描后的待测材料从X射线单晶体衍射仪中取出，并将其放置在物理光学显微镜的载物架上，从而利用物理光学显微镜的放大成像原理，将材料表面的微观结构放大成像，并利用计算机设备截取其部分区域，形成图形信息，并导入计算机文件夹中进行保存；

S4.将材料晶体结构数据信息和利用光学显微镜放大成像得到的图形信息统一导入计算机材料分析软件中，根据光学显微镜放大成像得到的图形信息，将利用X射线扫描后得到的材料晶体结构数据信息进行信息裁剪，只保留图形信息部分的材料晶体结构数据；

S5.将处理后的材料晶体结构数据和图形信息利用计算机设备进行数据分析，从而将材料的图形结构以及晶体结构分析相结合，从而方便得到更加全面的材料表面成分的分布情况。

2.根据权利要求1所述的一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，其特征在于：所述S1中在将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中后，除了需要关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，还需要利用遮挡设备隔绝设备外部光源。

3.根据权利要求1所述的一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，其特征在于：所述S3中需要将物理光学显微镜的显微倍数调整至500倍以上。

4.根据权利要求1所述的一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，其特征在于：所述S3中在利用计算机设备截取其部分区域，形成图形信息时，需截取图像中质地均匀、晶体分布规则有序的部分。

5.根据权利要求1所述的一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，其特征在于：所述S4中将利用X射线扫描后得到的材料晶体结构数据信息进行信息裁剪时，裁剪的材料晶体结构数据需略大于图形信息部分的数据。

6.根据权利要求1所述的一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，其特征在于：所述S5中在将材料的图形结构以及晶体结构分析相结合时，既需要进行整体微观结构分析，同时也需要对部分单晶体微观结构进行分析。