[发明专利]一种光学系统倍率色差的测量方法

说明书

本发明提供了一种光学系统倍率色差的测量方法，属于光学检测技术领域，用于检测待测光学系统的倍率色差，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，使用4种波长分别为λ₁～λ₄的平行光分别测量待测光学系统在一定角度的视场下的成像位置；步骤S2，将视场的4个成像点位置分别代入公式：中，计算得到A_i、B_i、C_i以及D_i的数值，i为视场；步骤S3，改变平行光的入射角度，选取n个不同角度的视场，重复步骤S1～步骤S2，计算4种波长为λ₁～λ₄的平行光在n个视场下的成像位置；步骤S4，选取倍率色差对应的波长λ_m以及波长λ_n，将步骤S3得到的n组A_i、B_i、C_i和D_i带入公式(1)，计算以及

技术领域

本发明属于光学检测技术领域，具体涉及一种光学系统倍率色差的测量方法。

背景技术

透射式光学系统由于材料的色散特性使其自身具有色差，色差分为位置色差和倍率色差两种。对于工作在宽波段的光学系统来来说，色差是影响其成像质量的重要因素，因此检测光学系统色差对于评估实际系统的性能非常重要。传统的色差评价是通过测量几个波长的相关光学参数进行对比，如测量位置色差时，通过测量不同波长的焦点位置得到位置色差。由于光源的限制，常规的方法得到的结果仅仅是几个测量波长之间的色差，不能全面的评价系统性能。

专利201910728724.0提出了利用后截距与波长的函数关系，通过几个波长的后截距数据计算出一定范围内连续波长的位置色差，即只需要测量几个波长的焦点位置就能得到系统在较大波段范围内的位置色差，但该专利仅能够解决位置色差的测量，并且位置色差仅是轴上像差，而倍率色差不仅与波长有关，还受到系统视场的影响。

在一些重要应用中，如星敏感器的倍率色差对于实际使用中的影响非常大，专利201510508308.1和202010404600.X为了解决星敏感器倍率色差的测量问题，提供了相关倍率色差的测量方案，但其结果也仅为几个特定波长之间的倍率色差，而无法做到测量连续视场以及测试波长以外的倍率色差，这会导致对评价光学系统的性能的不全面。

发明内容

为解决上述问题，提供一种光学系统倍率色差的测量方法，本发明采用了如下技术方案：

本发明提供了一种光学系统倍率色差的测量方法，用于检测待测光学系统的倍率色差，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，使用4种波长分别为λ₁～λ₄的平行光分别测量待测光学系统在一定角度的视场下的成像位置；步骤S2，将视场的4个成像点位置代入公式：