[发明专利]一种光学系统倍率色差的测量方法

权利要求书

1.一种光学系统倍率色差的测量方法，用于检测待测光学系统的倍率色差，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1，使用4种波长分别为λ₁～λ₄的平行光分别测量所述待测光学系统在一定角度的视场下的成像位置；

步骤S2，将所述视场的4个所述成像点位置代入公式：

中，计算得到A_i、B_i、C_i以及D_i的数值，

i为所述视场；

步骤S3，改变所述平行光的所述入射角度，选取n个不同角度的所述视场，重复步骤S1～步骤S2，计算4种波长为λ₁～λ₄的所述平行光在n个所述视场下的所述成像位置；

步骤S4，选取所述倍率色差对应的波长λ_m以及波长λ_n，将步骤S3得到的n组A_i、B_i、C_i和D_i带入公式(1)，计算以及即得到波长λ_m以及波长λ_n的n个不同的所述视场下的所述成像位置；

步骤S5，分别将不同的所述视场下的h_i(λ_m)以及h_i(λ_n)使用多项式公式拟合得到波长λ_m以及波长λ_n分别对应的视场与成像位置曲线y(λ_m)以及y(λ_n)；

步骤S6，根据y(λ_m)以及y(λ_n)得到所述待测光学系统的波长λ_m以及波长λ_n的倍率色差曲线L_Δ(λ_n-λ_m)＝y(λ_n)-y(λ_m)，即得到波长λ_m以及波长λ_n之间的所述倍率色差。

2.一种光学系统倍率色差的测量方法，用于检测被测光学系统的倍率色差，其特征在于，包括以下步骤：

步骤T1，使用4种波长分别为λ₁～λ₄的平行光分别测量所述待测光学系统在一定角度的视场下的成像位置；

步骤T2，将所述视场的4个所述成像点位置代入公式：

中，计算得到A_i、B_i、C_i以及D_i的数值，

i为所述视场；

步骤T3，改变所述平行光的所述入射角度，选取n个不同角度下的所述视场，重复步骤T1～步骤T2，计算4种波长为λ₁～λ₄的所述平行光在n个所述视场下的所述成像位置；

步骤T4，选取波长范围λ_p～λ_q的指定波长λ₀，计算即得到所述指定波长λ₀在n个不同的所述视场下的所述成像位置；

步骤T5，分别将步骤T4中得到的不同的所述视场下的h_i(λ₀)使用所述多项式公式拟合得到视场与成像位置曲线y(λ₀)；

步骤T6，计算以及得到波长λ_p以及波长λ_q分别在n个不同的所述视场下的所述成像位置；

步骤T7，分别将不同的所述视场下的h_i(λ_p)以及h_i(λ_q)使用所述多项式公式拟合得到波长λ_p以及波长λ_q分别对应的视场与成像位置曲线y(λ_p)以及y(λ_q)；

步骤T8，根据所述待测光学系统的波长范围λ_p～λ_q与所述指定波长λ₀的倍率色差曲线L_Δ(λ_p-λ₀)＝y(λ_p)-y(λ₀)～L_Δ(λ_q-λ₀)＝y(λ_q)-y(λ₀)，即得到所述波长范围λ_p～λ_q相对于所述指定波长λ₀的所述倍率色差。