[发明专利]一种用于光学试验检测的高精度磨机

说明书

本发明属于光学试验设备技术领域，公开了一种用于光学试验检测的高精度磨机，包括：打磨台，且在打磨台的中间位置处安装有负吸固定组件，所述负吸固定组件的两侧均设有可转动的丝杆，且每个丝杆上均套设有两个移动板；夹料组件，可拆卸的放置于打磨台顶部，且所述夹料组件包括对称的两个夹板、以及对称连接于两个夹板之间的两个夹紧弹簧；所述夹料组件放置于打磨台顶部时，夹板与丝杆垂直，且两个移动板限定于两个夹板之间；可升降的打磨组件，且所述打磨组件在下降时，驱动两个丝杆同步转动；综上，基于夹料组件的设置，能有效避免在上下料过程中直接接触元件检测面，从而最大程度的保证了精磨后检测面的精度和洁净程度。

技术领域

本发明属于光学试验设备技术领域，具体涉及一种用于光学试验检测的高精度磨机。

背景技术

具体在进行玻璃、金属等光学元件的性能检测时(例如：金属的金相检测、玻璃的表面元素检测)，需要将光学元件的检测面打磨至需要的精度，由此则需要用到相应的磨机。

但是，对于现有的试验用磨机而言，大多通过人手直接进行光学元件的上下料，由此在上下料过程中则难以避免的出现人手与检测面之间的接触，特别是对于体积较小、精度要求较高的光学元件而言，人手的直接接触极易造成检测面的污染，甚至影响检测面精度，进而影响试验检测的准确性。

发明内容

鉴于此，为解决上述背景技术中所提出的问题，本发明的目的在于提供一种用于光学试验检测的高精度磨机。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于光学试验检测的高精度磨机，包括：

打磨台，且在所述打磨台的中间位置处安装有负吸固定组件，在所述负吸固定组件的两侧均设有可转动的丝杆，且每个所述丝杆上均套设有两个移动板；

夹料组件，可拆卸的放置于所述打磨台顶部，且所述夹料组件包括对称的两个夹板、以及对称连接于两个夹板之间的两个夹紧弹簧；两个所述夹紧弹簧分别靠近夹板的两端，且所述夹料组件用于将待打磨的光学元件夹紧固定于两个夹板之间的中间部位；所述夹料组件放置于打磨台顶部时，夹板与丝杆垂直，且两个移动板限定于两个夹板之间；

可升降的打磨组件，且所述打磨组件在下降时，驱动两个丝杆同步转动，所述丝杆转动时，驱动其上的两个移动板沿丝杆中间向两端相反移动，并解锁夹料组件；所述移动板移动至丝杆端部时，打磨组件与待打磨的光学元件接触。

优选的，在所述打磨台顶部对称固定有两个限位板，所述限位板与丝杆平行设置，且两个所述限位板之间的距离与夹板长度相等；所述夹料组件放置于打磨台顶部时，垂直限定于两个限位板之间。

优选的，在两个所述夹板的中间位置处均开设有V型槽，且将待打磨的光学元件夹紧限定于两个V型槽之间。

优选的，所述负吸固定组件包括负压发生器和可转动的多孔负吸盘；在两个所述移动板驱动夹料组件解锁后，所述负压发生器驱使多孔负吸盘产生负压，负吸固定待打磨的光学元件。

优选的，在所述打磨台顶部的中间位置处开设有通孔，在所述打磨台内部安装有升降气缸，所述升降气缸用于驱动多孔负吸盘上下升降，且多孔负吸盘在上下升降时可穿过通孔。

优选的，所述负压发生器为圆柱形结构；所述升降气缸的顶端固定有升降环，且所述升降环套设于负压发生器上；所述多孔负吸盘的底部焊接有连接套，所述连接套套设于负压发生器外侧，并可转动的支撑于升降环顶部。

优选的，所述连接套的内壁上对称开设有两个滑槽，且两个滑槽之间滑动配合有一倒置的U型架，所述U型架底部位于负压发生器顶部下方，且在所述负压发生器顶部的中间位置处安装有驱动电机，所述驱动电机通过U型架驱动连接套及多孔负吸盘转动。

优选的，在所述打磨台的一侧安装有两个可转动齿轮，且两个齿轮分别与两个丝杆同轴装配；所述打磨组件至少包括两个可升降的齿板，且两个齿板分别与两个齿轮啮合连接。