[发明专利]一种用于光学试验检测的高精度磨机

权利要求书

1.一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于，包括：

打磨台（1），且在所述打磨台（1）的中间位置处安装有负吸固定组件（2），在所述负吸固定组件（2）的两侧均设有可转动的丝杆（3），且每个所述丝杆（3）上均套设有两个移动板（4）；

夹料组件（5），可拆卸的放置于所述打磨台（1）顶部，且所述夹料组件（5）包括对称的两个夹板（51）、以及对称连接于两个夹板（51）之间的两个夹紧弹簧（52）；两个所述夹紧弹簧（52）分别靠近夹板（51）的两端，且所述夹料组件（5）用于将待打磨的光学元件夹紧固定于两个夹板（51）之间的中间部位；所述夹料组件（5）放置于打磨台（1）顶部时，夹板（51）与丝杆（3）垂直，且两个移动板（4）限定于两个夹板（51）之间；

可升降的打磨组件（6），且所述打磨组件（6）在下降时，驱动两个丝杆（3）同步转动，所述丝杆（3）转动时，驱动其上的两个移动板（4）沿丝杆（3）中间向两端移动，并解锁夹料组件（5）；所述移动板（4）移动至丝杆（3）端部时，打磨组件（6）与待打磨的光学元件接触。

2.根据权利要求1所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：在所述打磨台（1）顶部对称固定有两个限位板（11），所述限位板（11）与丝杆（3）平行设置，且两个所述限位板（11）之间的距离与夹板（51）长度相等；所述夹料组件（5）放置于打磨台（1）顶部时，垂直限定于两个限位板（11）之间。

3.根据权利要求1所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：在两个所述夹板（51）的中间位置处均开设有V型槽（53），且将待打磨的光学元件夹紧限定于两个V型槽（53）之间。

4.根据权利要求1所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：所述负吸固定组件（2）包括负压发生器（21）和可转动的多孔负吸盘（22）；在两个所述移动板（4）驱动夹料组件（5）解锁后，所述负压发生器（21）驱使多孔负吸盘（22）产生负压，负吸固定待打磨的光学元件。

5.根据权利要求4所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：在所述打磨台（1）顶部的中间位置处开设有通孔（12），在所述打磨台（1）内部安装有升降气缸（13），所述升降气缸（13）用于驱动多孔负吸盘（22）上下升降，且多孔负吸盘（22）在上下升降时可穿过通孔（12）。

6.根据权利要求5所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：所述负压发生器（21）为圆柱形结构；所述升降气缸（13）的顶端固定有升降环（14），且所述升降环（14）套设于负压发生器（21）上；所述多孔负吸盘（22）的底部焊接有连接套（23），所述连接套（23）套设于负压发生器（21）外侧，并可转动的支撑于升降环（14）顶部。

7.根据权利要求6所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：所述连接套（23）的内壁上对称开设有两个滑槽（24），且两个滑槽（24）之间滑动配合有一倒置的U型架（25），所述U型架（25）底部位于负压发生器（21）顶部下方，且在所述负压发生器（21）顶部的中间位置处安装有驱动电机（26），所述驱动电机（26）通过U型架（25）驱动连接套（23）及多孔负吸盘（22）转动。

8.根据权利要求4-7中任意一项所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：在所述打磨台（1）的一侧安装有两个可转动齿轮（15），且两个齿轮（15）分别与两个丝杆（3）同轴装配；所述打磨组件（6）至少包括两个可升降的齿板（61），且两个齿板（61）分别与两个齿轮（15）啮合连接。

9.根据权利要求8所述的一种用于光学试验检测的高精度磨机，其特征在于：所述齿板（61）的顶部焊接有顶板（62），且顶板（62）的底部固定有直线导轨（63）；所述直线导轨（63）上滑动套设有直线电机（64），且直线电机（64）的底部安装有可转动的打磨头（65）。