[发明专利]电子设备测试状态的检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 202110270759.1 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113078961B | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 苏景;李天林 | 申请（专利权）人： | 维沃移动通信有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B17/318 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 王思超 |
| 地址： | 523863 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电子设备 测试 状态 检测 方法 装置 | ||
1.一种电子设备测试状态的检测方法，其特征在于，所述电子设备包括第一天线和第二天线，所述方法包括：
在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号；
通过所述第二天线接收所述调制信号，获取所述调制信号的接收信号强度；
根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态，包括：
获取所述调制信号的发送信号强度与所述接收信号强度之间的目标差值；
在所述目标差值与所述预设校准值之间的差值小于预设阈值的情况下，确定所述电子设备处于耦合测试状态。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在确定所述电子设备处于耦合测试状态之后，所述方法还包括：
触发调整所述第一天线的功率或调整所述第一天线的负载。
4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，确定所述电子设备的测试状态，还包括：
在所述目标差值与所述预设校准值之间的差值不小于所述预设阈值的情况下，确定所述电子设备处于传导测试状态。
5.根据权利要求1至4任一项所述的检测方法，其特征在于，在确定所述电子设备的测试状态之后，所述方法还包括：进行搜网和连接测试。
6.根据权利要求1至4任一项所述的检测方法，其特征在于，所述第一天线包括：发射接收天线；所述第二天线包括：分集接收天线。
7.一种电子设备测试状态的检测装置，其特征在于，所述电子设备包括：第一天线和第二天线，所述装置包括：
控制模块，用于在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号，并通过所述第二天线接收所述调制信号；
获取模块，用于获取所述调制信号的接收信号强度；
确定模块，用于根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述确定模块包括：第一获取模块，用于获取所述调制信号的发送信号强度与所述接收信号强度之间的目标差值；
第一确定模块，用于在所述目标差值与所述预设校准值之间的差值小于预设阈值的情况下，确定所述电子设备处于耦合测试状态。
9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，在确定所述电子设备处于耦合测试状态之后，所述检测装置还包括：触发模块，用于触发调整所述第一天线的功率或调整所述第一天线的负载。
10.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述确定模块包括：第二确定模块，用于在所述目标差值与所述预设校准值之间的差值不小于所述预设阈值的情况下，确定所述电子设备处于传导测试状态。
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