[发明专利]晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法

权利要求书

1.一种晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述分析测试方法包括：

获取晶态物质的真密度ρ₁、理论密度ρ₂和系统差ρ₃，其中，真密度ρ₁表示晶态物质通过仪器分析得到的测试值，理论密度ρ₂表示计算得出的晶态物质的密度，系统差ρ₃表示标准样品的真密度ρ₁’与标准样品的理论密度ρ₂’的差(ρ₁’-ρ₂’)；

利用公式一[ρ₂/(ρ₁-ρ₃)-1]*100％计算得到晶态物质的闭孔孔隙率。

2.如权利要求1所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述理论密度ρ₂表示根据公式二计算得出的晶态物质的密度，所述公式二为：ρ₂＝N*M/(N_A*V_cell)，其中，N表示晶态物质的一个晶胞内含有的分子数，M表示晶态物质的摩尔质量，N_A表示阿伏伽德罗常数，V_cell表示晶态物质的一个晶胞体积。

3.如权利要求2所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述V_cell由下述方法计算得到：利用X射线粉末衍射仪测出晶态物质的物性参数，通过精修软件计算校正离子混排、元素掺杂、晶体内部应力和测试温度对物性参数的影响，根据晶态物质的晶体结构类型选择相应的体积公式计算得到。

4.如权利要求3所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，当所述晶态物质的晶胞结构为正六棱柱时，所述V_cell的计算公式为：其中，a表示正六棱柱的底面边长，c表示正六棱柱的侧棱长。

5.如权利要求1所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述标准样品的闭孔孔隙率为零。

6.如权利要求1所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述真密度ρ₁表示晶态物质通过真密度仪分析得到的测试值，所述真密度仪的分析测试气体为氦气。

7.如权利要求1所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述系统差ρ₃为标准样品的真密度ρ₁’与标准样品的理论密度ρ₂’的差(ρ₁’-ρ₂’)的平均值。

8.如权利要求1所述的晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法，其特征在于，所述晶态物质为锂离子二次电池正极材料。