[发明专利]一种超短超强激光脉冲参数测量方法及装置

说明书

本发明公开了一种超短超强激光脉冲参数测量方法及装置，本发明获取超短超强激光与电子对撞后的辐射强度变化数据，通过与预设数据库中的数据进行相似度比对，反探测超短超强激光脉冲的参数，简单且精确。

技术领域

本发明涉及一种超短超强激光脉冲参数测量方法及装置，属于强激光测量技术领域。

背景技术

超短超强激光脉冲在模拟天体物理极端条件、激光约束核聚变等领域有着举足轻重的作用。要想实现极端条件及聚变状态的精确控制，就需要准确测量超短超强激光脉冲参数值。现有激光参数测量方法根本无法获得高能高功率激光参量的精确数值，只能通过估算以及重复试验实现经验性的调整。因此现在急需一种新的探测方法。

发明内容

本发明提供了一种超短超强激光脉冲参数测量方法及装置，解决了背景技术中披露的问题。

为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：

一种超短超强激光脉冲参数测量方法，包括，

获取超短超强激光与电子对撞后，若干差异最显著位置的辐射强度变化数据；

对辐射强度变化数据进行预处理，获得各差异最显著位置的辐射强度变化数据序列；

根据辐射强度变化数据序列和预设数据库中数据序列的相似度，获取与电子对撞的超短超强激光的脉冲参数；其中，预设数据库中存储有典型辐射强度变化数据序列和对应的超短超强激光脉冲参数。

对辐射强度变化数据进行预处理，获得各差异最显著位置的辐射强度变化数据序列，具体过程为，

采用防脉冲干扰复合滤波法对辐射强度变化数据进行滤波；

将滤波后同一差异最显著位置的辐射强度变化数据进行整合，获得辐射强度变化数据序列。

根据辐射强度变化数据序列和预设数据库中数据序列的相似度，获取超短超强激光的脉冲参数，具体过程为，

计算每个辐射强度变化数据序列和预设数据库中各典型辐射强度变化数据序列的相似度；

根据相似度，采用熵权法，计算综合相似度；

将综合相似度最高的典型辐射强度变化数据序列对应的超短超强激光脉冲参数，作为与电子对撞的超短超强激光的脉冲参数。

一种超短超强激光脉冲参数测量装置，包括对撞装置、若干辐射探测器、控制器和显示器；

对撞装置用以进行超短超强激光与电子对撞；

若干辐射探测器设置在对撞装置内，并且与控制器连接；若干辐射探测器分别用以探测各差异最显著位置的辐射强度变化数据；

控制器用以执行超短超强激光脉冲参数测量方法；

显示器与控制器连接，显示器显示控制器输出的超短超强激光的脉冲参数。

对撞装置包括真空器皿，真空器皿的一端安装有激光输入装置，激光输入装置外接超短超强激光产生装置，将超短超强激光输入真空器皿内腔，真空器皿内腔内安装有单电子产生装置，真空器皿外部包裹有若干隔层。

真空器皿外部从内往外依次包裹石英隔层和铁质隔层。

辐射探测器设置在最内的隔层内。

控制器包括连接的预处理控制器和比对控制器；

预处理控制器连接辐射探测器，用以对辐射强度变化数据进行预处理，获得各差异最显著位置的辐射强度变化数据序列；

比对控制器连接显示器，用以根据辐射强度变化数据序列和预设数据库中数据序列的相似度，获取与电子对撞的超短超强激光的脉冲参数。

预处理控制器的数量与辐射探测器数量一致，一个预处理控制器连接一个辐射探测器，所有预处理控制器均连接比对控制器。