[发明专利]一种超短超强激光脉冲参数测量方法及装置在审
| 申请号： | 202110265907.0 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN112904400A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 余鹏航;王逸秋;李凌霄;庄佳唯;陈祖杰;常健平;葛静雯;尤波;田友伟 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;G01T1/36;G01J1/44;G01J1/42 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 史俊军 |
| 地址： | 210023 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 超短 超强 激光 脉冲 参数 测量方法 装置 | ||
1.一种超短超强激光脉冲参数测量方法，其特征在于：包括，
获取超短超强激光与电子对撞后，若干差异最显著位置的辐射强度变化数据；
对辐射强度变化数据进行预处理，获得各差异最显著位置的辐射强度变化数据序列；
根据辐射强度变化数据序列和预设数据库中数据序列的相似度，获取与电子对撞的超短超强激光的脉冲参数；其中，预设数据库中存储有典型辐射强度变化数据序列和对应的超短超强激光脉冲参数。
2.根据权利要求1所述的一种超短超强激光脉冲参数测量方法，其特征在于：对辐射强度变化数据进行预处理，获得各差异最显著位置的辐射强度变化数据序列，具体过程为，
采用防脉冲干扰复合滤波法对辐射强度变化数据进行滤波；
将滤波后同一差异最显著位置的辐射强度变化数据进行整合，获得辐射强度变化数据序列。
3.根据权利要求1所述的一种超短超强激光脉冲参数测量方法，其特征在于：根据辐射强度变化数据序列和预设数据库中数据序列的相似度，获取超短超强激光的脉冲参数，具体过程为，
计算每个辐射强度变化数据序列和预设数据库中各典型辐射强度变化数据序列的相似度；
根据相似度，采用熵权法，计算综合相似度；
将综合相似度最高的典型辐射强度变化数据序列对应的超短超强激光脉冲参数，作为与电子对撞的超短超强激光的脉冲参数。
4.一种超短超强激光脉冲参数测量装置，其特征在于：包括对撞装置、若干辐射探测器、控制器和显示器；
对撞装置用以进行超短超强激光与电子对撞；
若干辐射探测器设置在对撞装置内，并且与控制器连接；若干辐射探测器分别用以探测各差异最显著位置的辐射强度变化数据；
控制器用以执行权利要求1~3所述的任一方法；
显示器与控制器连接，显示器显示控制器输出的超短超强激光的脉冲参数。
5.根据权利要求4所述的一种超短超强激光脉冲参数测量装置，其特征在于：对撞装置包括真空器皿，真空器皿的一端安装有激光输入装置，激光输入装置外接超短超强激光产生装置，将超短超强激光输入真空器皿内腔，真空器皿内腔内安装有单电子产生装置，真空器皿外部包裹有若干隔层。
6.根据权利要求5所述的一种超短超强激光脉冲参数测量装置，其特征在于：真空器皿外部从内往外依次包裹石英隔层和铁质隔层。
7.根据权利要求5或6所述的一种超短超强激光脉冲参数测量装置，其特征在于：辐射探测器设置在最内的隔层内。
8.根据权利要求4所述的一种超短超强激光脉冲参数测量装置，其特征在于：控制器包括连接的预处理控制器和比对控制器；
预处理控制器连接辐射探测器，用以对辐射强度变化数据进行预处理，获得各差异最显著位置的辐射强度变化数据序列；
比对控制器连接显示器，用以根据辐射强度变化数据序列和预设数据库中数据序列的相似度，获取与电子对撞的超短超强激光的脉冲参数。
9.根据权利要求8所述的一种超短超强激光脉冲参数测量装置，其特征在于：预处理控制器的数量与辐射探测器数量一致，一个预处理控制器连接一个辐射探测器，所有预处理控制器均连接比对控制器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京邮电大学，未经南京邮电大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110265907.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：压缩空气空调系统
- 下一篇：一种单拖船只目标的识别方法及装置
