[发明专利]雷达目标聚类方法、装置和电子设备有效

专利信息
申请号: 202110260144.0 申请日: 2021-03-10
公开(公告)号: CN113030896B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 王晨红;邢寒露;石露露;薛高茹;何文彦;秦屹 申请(专利权)人: 森思泰克河北科技有限公司
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G06K9/62
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 李荣文
地址: 050200 河北省石家庄*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 雷达 目标 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种雷达目标聚类方法,其特征在于,包括:

接收第一雷达帧;

根据所述第一雷达帧的点云聚类特征,确定所述第一雷达帧的聚类门限;其中,所述点云聚类特征是第一雷达帧中与真实目标对应的真实点云的点云聚类特征,或者是第一雷达帧中与多径目标对应的多径点云的点云聚类特征;

基于所述第一雷达帧的聚类门限和至少一个第二雷达帧的聚类门限,对所述第一雷达帧中与真实目标对应的真实点云进行聚类;所述第二雷达帧为位于所述第一雷达帧之前的雷达帧。

2.如权利要求1所述的雷达目标聚类方法,其特征在于,所述根据所述第一雷达帧的点云聚类特征,确定所述第一雷达帧的聚类门限,包括:

获取所述第一雷达帧中的目标点云的点数;所述目标点云为所述真实点云或者为与多径目标对应的多径点云;

当所述目标点云的点数大于第一预设点数阈值时,将所述第一预设点数阈值对应的第一聚类门限确定为所述第一雷达帧的聚类门限;

当所述目标点云的点数小于或者等于第一预设点数阈值时,将所述第一预设点数阈值对应的第二聚类门限确定为所述第一雷达帧的聚类门限;

所述第一预设点数阈值仅对应有第一聚类门限和第二聚类门限,所述第一聚类门限小于所述第二聚类门限。

3.如权利要求1所述的雷达目标聚类方法,其特征在于,所述根据所述第一雷达帧的点云聚类特征,确定所述第一雷达帧的聚类门限,包括:

按照预设聚类门限对所述第一雷达帧中的目标点云进行聚类;所述目标点云为所述真实点云或者为与多径目标对应的多径点云;

在聚类得到多个类别的情况下,获取所述多个类别的类别中心彼此之间的距离分布特征;

当所述距离分布特征为离散特征时,将所述离散特征对应的第三聚类门限确定为所述第一雷达帧的聚类门限;

当所述距离分布特征为聚集特征时,将所述聚集特征对应的第四聚类门限确定为所述第一雷达帧的聚类门限;

所述第三聚类门限小于所述第四聚类门限。

4.如权利要求3所述的雷达目标聚类方法,其特征在于,所述距离分布特征为所述多个类别的类别中心彼此之间的距离的平均距离;

在所述获取所述多个类别的类别中心彼此之间的距离分布特征之后,所述方法还包括:

在所述平均距离小于预设距离阈值的情况下,确定所述距离分布特征为离散特征;

在所述平均距离大于或者等于预设距离阈值的情况下,确定所述距离分布特征为聚集特征。

5.如权利要求1所述的雷达目标聚类方法,其特征在于,所述根据所述第一雷达帧的点云聚类特征,确定所述第一雷达帧的聚类门限,包括:

按照预设聚类门限对所述第一雷达帧中的目标点云进行聚类;所述目标点云为所述真实点云或者为与多径目标对应的多径点云;

在聚类得到多个类别的情况下,获取所述多个类别的点云回波强度特征;

当所述多个类别的点云回波强度特征不一致时,将第五聚类门限确定为所述第一雷达帧的聚类门限;

当所述多个类别的点云回波强度特征一致时,将第六聚类门限确定为所述第一雷达帧的聚类门限;

所述第五聚类门限小于所述第六聚类门限。

6.如权利要求5所述的雷达目标聚类方法,其特征在于,在所述获取所述多个类别的点云回波强度特征之后,所述方法还包括:

获取所述多个类别的点云回波强度特征的方差;

在所述方差大于预设方差阈值的情况下,确定所述多个类别的点云回波强度特征不一致;

在所述方差小于或者等于预设方差阈值的情况下,确定所述多个类别的点云回波强度特征一致。

7.如权利要求1至6任一项所述的雷达目标聚类方法,其特征在于,所述基于所述第一雷达帧的聚类门限和至少一个第二雷达帧的聚类门限,对所述第一雷达帧中与真实目标对应的真实点云进行聚类,包括:

对所述第一雷达帧的聚类门限和所述至少一个第二雷达帧的聚类门限取平均值,得到平均聚类门限;

按照所述平均聚类门限对所述真实点云进行聚类。

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