[发明专利]工件的瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种工件的瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质，获取良品工件的工件图像，计算所述工件图像的像素点瑕疵量；基于第一预设排除法和第二预设排除法确定所述工件图像的像素阈值上下限；根据所述像素阈值上下限对所述像素点瑕疵量进行异常点排除，确定所述工件图像的瑕疵阈值上下限；根据所述瑕疵阈值上下限生成瑕疵检测公式，并根据所述瑕疵检测公式对待检测工件的待检测图像进行瑕疵检测。本发明通过两种排除法对工件图像进行异常点排除，以此确定工件图像的瑕疵阈值上下限，再通过瑕疵检测公式对待检测工件的待检测图像进行精确的瑕疵检测，避免工件内部边缘被误检或漏检为瑕疵，提高工件瑕疵检测的准确率。

技术领域

本发明涉及瑕疵检测技术领域，尤其涉及一种工件的瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

瑕疵检测传统方法只能在平坦的工件表面检测瑕疵，如果工件表面有边缘存在，则工件表面的边缘会被误检为瑕疵，或者边缘缺失时会漏检瑕疵，导致工件瑕疵检测的准确率较低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种工件的瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决当前工件瑕疵检测的准确率较低的技术问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供一种工件的瑕疵检测方法，所述工件的瑕疵检测方法包括：

获取良品工件的工件图像，计算所述工件图像的像素点瑕疵量；

基于第一预设排除法和第二预设排除法确定所述工件图像的像素阈值上下限；

根据所述像素阈值上下限对所述像素点瑕疵量进行异常点排除，确定所述工件图像的瑕疵阈值上下限；

根据所述瑕疵阈值上下限生成瑕疵检测公式，并根据所述瑕疵检测公式对待检测工件的待检测图像进行瑕疵检测。

优选地，所述基于第一预设排除法和第二预设排除法确定所述工件图像的像素阈值上下限的步骤包括：

基于第一预设排除法确定所述工件图像的第一像素值上下限；

基于第二预设排除法确定所述工件图像的第二像素值上下限；

基于所述第一像素值上下限与所述第二像素值上下限，确定所述工件图像的像素阈值上下限。

优选地，所述基于第一预设排除法确定所述工件图像的第一像素值上下限的步骤包括：

获取所述工件图像的像素点灰度值；

根据第一预设排除法的第一预设公式组与所述像素点灰度值，计算所述工件图像的第一像素值上限与第一像素值下限；

由所述第一像素值上限与所述第一像素值下限形成所述工件图像的第一像素值上下限。

优选地，所述基于第二预设排除法确定所述工件图像的第二像素值上下限的步骤包括：

根据第二预设排除法的第二预设公式组与所述像素点灰度值，计算所述工件图像的第二像素值上限与第二像素值下限；

由所述第二像素值上限与所述第二像素值下限形成所述工件图像的第二像素值上下限。

优选地，所述基于所述第一像素值上下限与所述第二像素值上下限，确定所述工件图像的像素阈值上下限的步骤包括：

根据所述工件图像中第一像素值上下限的第一像素值上限与第二像素值上下限的第二像素值上限，确定所述工件图像的像素阈值上限；

根据所述工件图像中第一像素值上下限的第一像素值下限与第二像素值上下限的第二像素值下限，确定所述工件图像的像素阈值下限；

由所述像素阈值上限与所述像素阈值下限形成所述工件图像的像素阈值上下限。