[发明专利]工件的瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述工件的瑕疵检测方法包括：

获取良品工件的工件图像，计算所述工件图像的像素点瑕疵量；

基于第一预设排除法和第二预设排除法确定所述工件图像的像素阈值上下限；

根据所述像素阈值上下限对所述像素点瑕疵量进行异常点排除，确定所述工件图像的瑕疵阈值上下限；

根据所述瑕疵阈值上下限生成瑕疵检测公式，并根据所述瑕疵检测公式对待检测工件的待检测图像进行瑕疵检测。

2.如权利要求1所述的工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述基于第一预设排除法和第二预设排除法确定所述工件图像的像素阈值上下限的步骤包括：

基于第一预设排除法确定所述工件图像的第一像素值上下限；

基于第二预设排除法确定所述工件图像的第二像素值上下限；

基于所述第一像素值上下限与所述第二像素值上下限，确定所述工件图像的像素阈值上下限。

3.如权利要求2所述的工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述基于第一预设排除法确定所述工件图像的第一像素值上下限的步骤包括：

获取所述工件图像的像素点灰度值；

根据第一预设排除法的第一预设公式组与所述像素点灰度值，计算所述工件图像的第一像素值上限与第一像素值下限；

由所述第一像素值上限与所述第一像素值下限形成所述工件图像的第一像素值上下限。

4.如权利要求3所述的工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述基于第二预设排除法确定所述工件图像的第二像素值上下限的步骤包括：

根据第二预设排除法的第二预设公式组与所述像素点灰度值，计算所述工件图像的第二像素值上限与第二像素值下限；

由所述第二像素值上限与所述第二像素值下限形成所述工件图像的第二像素值上下限。

5.如权利要求2所述的工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述基于所述第一像素值上下限与所述第二像素值上下限，确定所述工件图像的像素阈值上下限的步骤包括：

根据所述工件图像中第一像素值上下限的第一像素值上限与第二像素值上下限的第二像素值上限，确定所述工件图像的像素阈值上限；

根据所述工件图像中第一像素值上下限的第一像素值下限与第二像素值上下限的第二像素值下限，确定所述工件图像的像素阈值下限；

由所述像素阈值上限与所述像素阈值下限形成所述工件图像的像素阈值上下限。

6.如权利要求1所述的工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述根据所述像素阈值上下限对所述像素点瑕疵量进行异常点排除，确定所述工件图像的瑕疵阈值上下限的步骤包括：

根据所述像素阈值上下限对所述像素点瑕疵量进行异常点排除，得到非异常点瑕疵量；

获取所述非异常点瑕疵量的最大值与最小值；

根据所述最大值与所述最小值，确定所述工件图像的瑕疵阈值上下限。

7.如权利要求1所述的工件的瑕疵检测方法，其特征在于，所述根据所述瑕疵检测公式对待检测工件的待检测图像进行瑕疵检测的步骤包括：

获取待检测工件的待检测图像；

通过所述瑕疵检测公式对所述待检测图像进行瑕疵检测；

根据所述瑕疵检测的结果，确定所述待检测图像是否存在瑕疵。

8.一种工件的瑕疵检测装置，其特征在于，所述工件的瑕疵检测装置包括：

计算模块，用于获取良品工件的工件图像，计算所述工件图像的像素点瑕疵量；

确定模块，用于基于第一预设排除法和第二预设排除法确定所述工件图像的像素阈值上下限；

排除模块，用于根据所述像素阈值上下限对所述像素点瑕疵量进行异常点排除，确定所述工件图像的瑕疵阈值上下限；

检测模块，用于根据所述瑕疵阈值上下限生成瑕疵检测公式，并根据所述瑕疵检测公式对待检测工件的待检测图像进行瑕疵检测。