[发明专利]基于最大似然估计的多传感器1比特直接定位方法有效
申请号: | 202110258767.4 | 申请日: | 2021-03-10 |
公开(公告)号: | CN113055815B | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 易伟;张国鑫;肖航;周其玉;周涛;孔令讲 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H04W4/02 | 分类号: | H04W4/02;H04W64/00;H04W84/18 |
代理公司: | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人: | 王伟 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 最大 估计 传感器 比特 直接 定位 方法 | ||
本发明公开了一种基于最大似然估计的多传感器1比特直接定位方法,包括以下步骤:S1、初始化系统参数,初始化传感器节点个数、传感器节点位置、传感器接收天线数目、阵元间距、接收信号波长、采样间隔、噪声方差、发射信号;S2、对各传感器接收通道的基带信号进行采样,获得离散样本值;S3、对离散样本值进行1比特量化,得到1比特信号;S4、划分目标位置的网格搜索空间;S5、采用网格搜索的方式定位目标。本发明将接收的基带信号采用1比特ADC量化,1比特ADC与传统ADC相比,不再需要自动增益控制,且只保留了1位量化结果,降低了系统复杂性、功耗、成本以及通信数据量。
技术领域
本发明属于信号处理技术领域,涉及信号参数估计以及多传感器被动定位方法,特别是一种基于最大似然估计的多传感器1比特直接定位方法。
背景技术
定位技术一直是通信和信号处理领域一个重要的研究内容,现有的定位技术主要可以分为两类,一类是二次定位,包括TOA,TDOA,AOA等技术,另一类是直接定位。在二次定位技术中,各个传感器节点孤立的测量与目标位置相关的量测参数,如信号的到达角,时延,多普勒等,忽略了这些参数均来自于同一目标这一约束关系,因此是次优的。而直接定位技术(DPD)直接从基带信号出发,估计出目标位置,不需要测量量测参数的中间步骤,具有低信噪比下定位精度高,鲁棒性好等特点,在民用和军用领域都有着广阔的发展空间。直接定位技术根据发射信号的波形信息是否已知,可以分为DPD-known和DPD-unknown两种方法,前者由于已知发射信号的波形信息,因此是理论上最优的定位算法,能够实现低信噪比下的高精度定位。
对于大规模传感网络系统,通常是由广域分布的低成本,低传输带宽以及低功耗的传感器节点构成。多传感器直接定位技术中,各传感器节点需要传输整个基带信号到融合中心,随着传感器节点数目以及观测时间的增加,系统的传输带宽以及功耗等都将面临着严峻的挑战,直接定位技术在实际大规模传感网络中的应用也由此得到限制。解决上述问题的一种有效方法是采用更少的比特去量化基带信号,一种极端的量化方式是仅采用1位比特去量化基带信号,我们称之为1比特量化。文献“Joint Angle and DopplerFrequency Estimation for MIMO Radar with One-Bit Sampling:A MaximumLikelihood-Based Method,in IEEE Transactions on Aerospace and ElectronicSystems,vol.56,no.6,pp.4734-4748,Dec.2020”提出了基于1比特量化信号求解目标多普勒,角度的方法,估计了二次定位所需的中间参数。文献“Joint UWB TOA and AOAestimation under 1-bit quantization resolution,2013IEEE/CIC InternationalConference on Communications in China(ICCC),Xi'an,2013,pp.321-326”提出了一种采用均匀线阵天线和高速比较器的1位量化TOA/AOA估计器,并采用了三步估计TOA/AOA算法进行目标定位。以上都是针对1比特量化在二次定位中的研究,应用在直接定位技术中的1比特量化还没有得到研究。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种将接收的基带信号采用1比特ADC量化,与传统ADC相比,不再需要自动增益控制,且只保留了1位量化结果,降低了系统复杂性、功耗、成本以及通信数据量的基于最大似然估计的多传感器1比特直接定位方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:基于最大似然估计的多传感器1比特直接定位方法,包括以下步骤:
S1、初始化系统参数,初始化传感器节点个数、传感器节点位置、传感器接收天线数目、阵元间距、接收信号波长、采样间隔、噪声方差、发射信号;
S2、对各传感器接收通道的基带信号进行采样,获得离散样本值;
S3、对离散样本值进行1比特量化,得到1比特信号;
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