[发明专利]握持方式识别方法、装置、设备及存储介质

说明书

本公开是关于一种握持方式识别方法、装置、设备及存储介质，所述方法应用于具有第一天线和第二天线的电子设备，所述第一天线位于所述电子设备的底部，所述第二天线位于所述电子设备的左边一侧或右边一侧；所述方法包括：获取所述第一天线的第一当前电容值和所述第二天线的第二当前电容值；若基于所述第一当前电容值和第二当前电容值确定所述电子设备处于握持状态，则将所述第一当前电容值与设定阈值进行比较；若所述第一当前电容值小于所述设定阈值，则基于所述第一当前电容值和所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式。本公开可以提高确定握持方式的准确性，且可以降低电子设备的制造成本和功耗。

技术领域

本公开涉及终端技术领域，尤其涉及一种握持方式识别方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着智能手机等终端设备技术的飞速发展，大屏幕、高屏占比、曲面屏已经成了高端的终端设备的标配。在用户使用终端设备的过程中，单手握持和操作是较为常见的场景。而针对目前流行的大屏幕，单手操作时终端显示界面会存在无法触控到的“盲区”，当用户单手握持并尝试点击“盲区”时，往往无法成功点击，且终端的屏幕边缘非常容易发生误触情况，用户体验差。相关技术中可以根据用户手握方式缩放终端界面或降低终端屏幕边缘敏感度，以实现单手操作和避免误触。因此，如何准确的判断出终端的握持方式是目前亟待解决的技术问题之一。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开实施例提供一种握持方式识别方法、装置、设备及存储介质，用以解决相关技术中的缺陷。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种握持方式识别方法，应用于具有第一天线和第二天线的电子设备，所述第一天线位于所述电子设备的底部，所述第二天线位于所述电子设备的左边一侧或右边一侧；

所述方法包括：

获取所述第一天线的第一当前电容值和所述第二天线的第二当前电容值；

若基于所述第一当前电容值和第二当前电容值确定所述电子设备处于握持状态，则将所述第一当前电容值与设定阈值进行比较；

若所述第一当前电容值小于所述设定阈值，则基于所述第一当前电容值和所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式。

在一实施例中，所述方法还包括：

若所述第一当前电容值大于或等于设定阈值，则基于所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式。

在一实施例中，所述基于所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式，包括：

将所述第二当前电容值与预设电容阈值进行比较，得到比较结果；

基于所述比较结果确定所述电子设备的握持方式。

在一实施例中，所述基于所述第一当前电容值和所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式，包括：

基于所述第一当前电容值与所述第二当前电容值生成目标电容数据；

确定所述电容数据与预先确定的各个聚类中心之间的距离，所述聚类中心包括预先基于各个握持方式对应的样本电容数据确定的中心；

基于与所述电容数据之间的距离最小的聚类中心所对应的握持方式，确定所述电子设备的握持方式。

在一实施例中，所述方法还包括预先基于以下步骤确定所述聚类中心：

获取所述电子设备的样本电容数据，所述样本电容数据包括在各个握持方式下采集的所述第一天线的第一样本电容值和所述第二天线的第二样本电容值；

对所述样本电容数据进行聚类，得到所述电子设备的各个握持方式对应的聚类中心。

在一实施例中，所述对所述样本电容数据进行聚类，得到所述电子设备的各个握持方式对应的聚类中心，包括：