[发明专利]握持方式识别方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种握持方式识别方法，其特征在于，应用于具有第一天线和第二天线的电子设备，所述第一天线位于所述电子设备的底部，所述第二天线位于所述电子设备的左边一侧或右边一侧；

所述方法包括：

获取所述第一天线的第一当前电容值和所述第二天线的第二当前电容值；

若基于所述第一当前电容值和第二当前电容值确定所述电子设备处于握持状态，则将所述第一当前电容值与设定阈值进行比较；

若所述第一当前电容值小于所述设定阈值，则基于所述第一当前电容值和所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述第一当前电容值大于或等于设定阈值，则基于所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式，包括：

将所述第二当前电容值与预设电容阈值进行比较，得到比较结果；

基于所述比较结果确定所述电子设备的握持方式。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一当前电容值和所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式，包括：

基于所述第一当前电容值与所述第二当前电容值生成目标电容数据；

确定所述电容数据与预先确定的各个聚类中心之间的距离，所述聚类中心包括预先基于各个握持方式对应的样本电容数据确定的中心；

基于与所述电容数据之间的距离最小的聚类中心所对应的握持方式，确定所述电子设备的握持方式。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括预先基于以下步骤确定所述聚类中心：

获取所述电子设备的样本电容数据，所述样本电容数据包括在各个握持方式下采集的所述第一天线的第一样本电容值和所述第二天线的第二样本电容值；

对所述样本电容数据进行聚类，得到所述电子设备的各个握持方式对应的聚类中心。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对所述样本电容数据进行聚类，得到所述电子设备的各个握持方式对应的聚类中心，包括：

从所述样本电容数据中获取第一组数据和第二组数据；

分别对所述第一组数据和第二组数据进行聚类，得到所述第一组数据对应的第一参考聚类中心和第一平均半径以及所述第二组数据对应的第二参考聚类中心和第二平均半径；

若所述第一参考聚类中心、所述第一平均半径以及所述第二参考聚类中心、所述第二平均半径满足设定条件，则基于所述第一参考聚类中心和所述第二参考聚类中心确定两个不同握持方式对应的聚类中心。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一参考聚类中心、所述第一平均半径以及所述第二参考聚类中心、所述第二平均半径满足设定条件，包括：

所述第一参考聚类中心与所述第二参考聚类中心之间的距离大于所述第一平均半径与所述第二平均半径之和的设定倍数。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一参考聚类中心和所述第二参考聚类中心确定两个不同握持方式对应的聚类中心，包括：

对所述第一组数据和所述第二组数据的总和进行重新聚类，并将得到的两个重新聚类中心确定为所述两个不同握持方式对应的聚类中心。

9.一种握持方式识别装置，其特征在于，应用于具有第一天线和第二天线的电子设备，所述第一天线位于所述电子设备的底部，所述第二天线位于所述电子设备的左边一侧或右边一侧；

所述装置包括：

电容值获取模块，用于获取所述第一天线的第一当前电容值和所述第二天线的第二当前电容值；

电容值比较模块，用于当基于所述第一当前电容值和第二当前电容值确定所述电子设备处于握持状态时，将所述第一当前电容值与设定阈值进行比较；

第一方式确定模块，用于当所述第一当前电容值小于所述设定阈值时，基于所述第一当前电容值和所述第二当前电容值确定所述电子设备的握持方式。