[发明专利]一种用于强磁场的屏蔽装置在审
| 申请号: | 202110243830.7 | 申请日: | 2021-03-05 |
| 公开(公告)号: | CN113038813A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
| 发明(设计)人: | 崔志刚;赵现平;沈龙;汪耀辉;董俊贤;高景林;洪志湖 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号: | H05K9/00 | 分类号: | H05K9/00 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
| 地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 磁场 屏蔽 装置 | ||
本申请提供的用于强磁场的屏蔽装置,屏蔽装置为包括多层屏蔽器的复合屏蔽装置,多层屏蔽器由多种不同材料的屏蔽罩同轴环绕而成;复合屏蔽装置的最内层设置聚磁环,聚磁环的一侧设置开口;复合屏蔽装置最外层的屏蔽器上设置有气隙结构;气隙结构的开口与聚磁环的开口背向设置。本装置设计为多层结构,且不同层由不同的材质组合而成,使得屏蔽装置在强磁场环境下解决屏蔽罩磁饱和的问题,且在高磁场干扰环境下,即使外层屏蔽罩磁饱和,最里面一层屏蔽罩仍然有效保护被屏蔽体达到屏蔽效果。同时,该装置非全封闭,是可用于测量导线磁场的开口式屏蔽结构,在多层屏蔽结构外层合理设置气隙,防止过早饱和,并降低交流磁场下涡流效应导致的发热情况。
技术领域
本申请涉及电磁屏蔽技术领域,尤其涉及一种用于强磁场的屏蔽装置。
背景技术
屏蔽体为一种具有特定性能的材料,电磁屏蔽技术是指利用屏蔽体阻止或损耗电磁 骚扰能量传输的技术,是抑制电磁干扰的重要手段之一。电磁屏蔽最主要的手段是利用金属外壳对电场、磁场、电磁场进行屏蔽,传感器屏蔽设计因为高压恶劣的电磁环境而 成为必备的EMC措施。
目前用于测量导线电流的互感器、霍尔电流传感器等均是通过将被测导线的磁场信 号转换为电信号来测量导线电流值。当外界磁场干扰较强时,被测导线周围的磁场就会应干扰出现变化,使得测量值不准确。
针对上述问题,传统技术方案是在传感器周围增加一层由高导磁软磁材料如坡莫合 金、硅钢等制作的屏蔽罩,屏蔽外界磁场的干扰。此技术方案在较小的磁场干扰下往往能有较好的屏蔽效果,但是在高磁场干扰下,往往效果不佳。虽然高磁导率材料制作屏 蔽罩虽能提供非常好的屏蔽效能,但强干扰磁场下,会使高磁导率材料磁饱和,导致屏 蔽失败。且在交流强磁场作用下,屏蔽材料内会产生较大的涡流效,产生严重的热效应 引起发热情况,影响屏蔽结构内电路的工作稳定性。可见,目前现有的磁屏蔽技术难以 解决高强度磁场干扰下的磁屏蔽问题。
发明内容
本申请提供了一种用于强磁场的屏蔽装置,以解决传统屏蔽罩装置难以解决高强度 磁场干扰下的磁屏蔽问题,并降低交流磁场下涡流效应导致的发热情况。
本申请解决上述技术问题所采取的技术方案如下:
一种用于强磁场的屏蔽装置,所述屏蔽装置为包括多层屏蔽器的复合屏蔽装置,所 述多层屏蔽器由多种不同材料的屏蔽罩同轴环绕而成;
所述复合屏蔽装置的最内层设置聚磁环,所述聚磁环的一侧设置第一气隙结构;
所述复合屏蔽装置最外层的屏蔽器上设置有第二气隙结构;
所述第一气隙结构与第二气隙结构的开口背向设置。
可选的,所述屏蔽装置为包括第一屏蔽层和第二屏蔽层的双层屏蔽装置;
所述第一屏蔽层的厚度为1mm,所述第二屏蔽层的厚度也为1mm。
可选的,所述第一屏蔽层的厚度为2mm,所述第二屏蔽层的厚度为1mm。
可选的,所述第一屏蔽层的厚度为2mm,所述第二屏蔽层的厚度为2mm。
可选的,所述第一气隙结构和第二气隙结构的开口直径均为1mm。
可选的,每层所述屏蔽器均为圆筒结构。
本申请提供的技术方案包括以下有益技术效果:
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