[发明专利]传感器封装件和用于制造传感器封装件的方法在审

专利信息
申请号: 202110243145.4 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN113460947A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: R·M·沙勒;J·丹格尔迈尔 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 黄倩
地址: 德国诺伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 传感器 封装 用于 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种传感器封装件,包括:

MEMS传感器芯片(2);

盖部(8),被布置在所述MEMS传感器芯片(2)的第一主面(4)上方,所述盖部由模塑料制成;以及

电过孔(10),延伸穿过所述盖部(8),所述电过孔被设计为将所述传感器封装件与被布置在所述盖部(8)上方的电路板电耦连。

2.根据权利要求1所述的传感器封装件,其中在所述MEMS传感器芯片(2)的所述第一主面(4)的俯视图中,所述盖部(8)和所述MEMS传感器芯片(2)是基本上重叠的。

3.根据权利要求1或2所述的传感器封装件,还包括:

逻辑芯片(14),被布置在所述MEMS传感器芯片(2)和所述盖部(8)之间,所述逻辑芯片被设计为对由所述MEMS传感器芯片(2)提供的测量信号进行逻辑处理,

其中所述电过孔(10)被设计为将所述逻辑芯片(14)与所述电路板电耦连。

4.根据前述权利要求中任一项所述的传感器封装件,还包括:

气体开口(20),被布置在所述MEMS传感器芯片(2)的第二主面(6)上方,所述第二主面与所述第一主面(4)对置。

5.根据权利要求4所述的传感器封装件,还包括:

第一结构(18),被布置在所述MEMS传感器芯片(2)的所述第二主面(6)上方,所述第一结构由玻璃材料或半导体材料中的至少一种材料制成,

其中所述气体开口(20)被构造在所述第一结构(18)中。

6.根据前述权利要求中任一项所述的传感器封装件,还包括:

第二结构(24),被布置在所述MEMS传感器芯片(2)的所述第一主面(4)上方,所述第二结构由玻璃材料或半导体材料中的至少一种材料制成;以及

腔(26),被构造在所述第二结构(24)中,所述腔被布置在所述MEMS传感器芯片(2)的MEMS结构(12)上方。

7.根据前述权利要求中任一项所述的传感器封装件,其中所述电过孔(10)包括电通孔连接。

8.根据前述权利要求中任一项所述的传感器封装件,其中所述电过孔(10)包括以下至少一项:压配销、金属柱、线夹或键合线。

9.根据前述权利要求中任一项所述的传感器封装件,其中所述电过孔(10)被设计为将所述传感器封装件与所述电路板机械耦连。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的传感器封装件,还包括:

外围连接元件(34),被布置在所述盖部(8)上方,所述外围连接元件与所述电过孔(10)电耦连,

其中所述外围连接元件(34)被设计为将所述传感器封装件与所述电路板进行电和机械耦连。

11.根据权利要求10所述的传感器封装件,还包括:

重新布线层(28),被布置在所述盖部(8)和所述外围连接元件(34)之间,所述重新布线层将所述电过孔(10)和所述外围连接元件(34)电耦连。

12.根据权利要求11所述的传感器封装件,其中所述重新布线层(28)包括至少一个导体迹线(30),其中所述至少一个导体迹线(30)被设计为提供电子部件。

13.根据前述权利要求中任一项所述的传感器封装件,其中所述MEMS传感器芯片(2)被设计为检测压力信号。

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