[发明专利]一种半导体晶圆清洗装置及其工作方法在审
申请号: | 202110240467.3 | 申请日: | 2021-03-04 |
公开(公告)号: | CN112864059A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 罗云红;黄晓波 | 申请(专利权)人: | 泸州龙芯微科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 周卫 |
地址: | 646000 四川省泸州市自贸区川南临港*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 清洗 装置 及其 工作 方法 | ||
1.一种半导体晶圆清洗装置,包括装置外壳(1)和晶圆主体(12),其特征在于:所述装置外壳(1)的内部转动连接有第一转动杆(13),所述装置外壳(1)的底端内壁处开设有第一空腔(2),所述第一转动杆(13)与装置外壳(1)的内壁贯穿连接,且连接处设有轴承,所述第一转动杆(13)的底端位于第一空腔(2)的内部,所述第一转动杆(13)的顶端固定连接有放置板(10),所述放置板(10)的上表面固定连接有放置盒(11),所述装置外壳(1)的两侧内壁内对称开设有第二空腔(9),所述装置外壳(1)的两侧内壁内均对称开设有两个第四空腔(23),所述第四空腔(23)关于第二空腔(9)对称,所述装置外壳(1)的顶端固定连接有水箱(15),且水箱(15)的顶端开设有入水口(16),所述水箱(15)的两侧均连接有输水管(14),所述输水管(14)的另一端通入第二空腔(9)的内部;
所述输水管(14)的另一端连接有波纹管(28),所述波纹管(28)的底端套接有活动块(27),所述输水管(14)的底端套接有限位板(29),所述限位板(29)位于波纹管(28)的上方,所述装置外壳(1)的底端内壁内对称开设有第三空腔(22),所述第三空腔(22)位于第二空腔(9)的下方,所述第二空腔(9)的内部转动连接有螺纹轴(26),所述螺纹轴(26)的底端与装置外壳(1)的内壁贯穿连接,且连接处设有轴承,所述螺纹轴(26)的底端位于第三空腔(22)的内部,所述螺纹轴(26)的顶端与活动块(27)螺纹旋合连接,所述活动块(27)上通过转轴转动连接有喷头主体(30),所述喷头主体(30)的两侧对称固定连接有第一滑动块(32),所述装置外壳(1)的侧壁上开设有滑槽(31),所述第一滑动块(32)在滑槽(31)的内部滑动,所述活动块(27)的内部包裹有输水管,且输水管的顶端与波纹管(28)相通,所述喷头主体(30)与输水管相连。
2.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆清洗装置,其特征在于:所述第一转动杆(13)的底端固定连接有皮带轮(3),所述第一空腔(2)的内部连接有第一电机支架(6),所述第一空腔(2)通过第一电机支架(6)安装有第一电机主体(5),所述第一电机主体(5)的输出轴上固定连接有另一个皮带轮(3),两个所述皮带轮(3)之间套接有传动皮带(4)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆清洗装置,其特征在于:所述第四空腔(23)的内部固定连接有滑杆(24),所述活动块(27)的底端两侧对称连接有第二滑动块(33),所述第二滑动块(33)套接在对应边的滑杆(24)上。
4.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆清洗装置,其特征在于:所述装置外壳(1)的两侧底端连接有第二电机支架(17),所述装置外壳(1)通过第二电机支架(17)安装有第二电机主体(18),所述第二电机主体(18)的输出轴上固定连接有连接杆(19),所述连接杆(19)贯穿装置外壳(1)的内壁,且连接处设有轴承,所述连接杆(19)的另一端位于第三空腔(22)的内部,所述螺纹轴(26)的底端固定连接有第二齿轮(21),所述连接杆(19)的另一端固定连接有第一齿轮(20),所述第一齿轮(20)与第二齿轮(21)均为伞状结构,且第一齿轮(20)和第二齿轮(21)啮合。
5.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆清洗装置,其特征在于:所述装置外壳(1)的底端对称开设有出水管(7),所述出水管(7)的出水端上套接有阀门(8)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆清洗装置,其特征在于:所述放置盒(11)的内部开设有若干个晶圆放置槽(34),所述晶圆主体(12)固定安装在晶圆放置槽(34)内,所述晶圆放置槽(34)的内部前后两侧均贴合有清洗棉(38),所述清洗棉(38)与晶圆主体(12)的表面贴合。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泸州龙芯微科技有限公司,未经泸州龙芯微科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110240467.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造