[发明专利]一种杂光检验方法及其设备

说明书

本发明公开了一种杂光检验方法及其设备，用于在生产手机摄像头模组时自动化的对摄像头模组进行杂光检验，以拦截杂光严重的摄像头模组的生产。该方法包括：控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

技术领域

本发明涉及摄像头技术领域，特别涉及一种杂光检验方法及其设备。

背景技术

手机摄像头近些年的发展越来越迅速，各大手机厂商对成像质量越来越重视。在手机摄像头拍摄成像时，理想情况下，光线经过镜头内镜片的折射完全落在感光芯片上，呈现出的图像还原度极高。但在实际情况中，光线进入镜头以后，在镜头内会存在不同程度的反射，反射光再次进入镜头内时，会形成杂光，进而产生所谓的鬼影，干扰成像质量。还有一种情况是，如果镜头内部存在轻微损伤或未达到公差标准，在成像时也会形成杂光。

杂光普遍存在于每个手机摄像头中，但是严重程度不同，需要对杂光比较严重的摄像头模组进行生产拦截。目前国内大部分摄像头模组厂生产时不会对摄像头模组进行杂光检验，小部分会利用矩阵光源进行抽检，人工观察摄像头模组是否存在杂光，检测效率低，漏出风险较大。

发明内容

本发明提供一种杂光检验方法及其设备，用于在生产手机摄像头模组时自动化的对摄像头模组进行杂光检验，以拦截杂光严重的摄像头模组的生产。

第一方面，本发明实施例提供的一种杂光检验方法，应用于检验设备，包括：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

本实施例提供的杂光检验方法，能够从摄像头模组拍摄的检验图像中筛选出像素点满足预设条件的检验图像，并进一步对筛选出的检验图像中的像素区域进行判断，从而确定该摄像头模组拍摄的图像中是否存在杂光，以拦截杂光严重的摄像头模组的生产。

作为一种可选的实施方式，所述根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，包括：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

作为一种可选的实施方式，通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，还包括：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

作为一种可选的实施方式，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，包括：