[发明专利]一种杂光检验方法及其设备

权利要求书

1.一种杂光检验方法，其特征在于，应用于检验设备，该方法包括：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，包括：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，还包括：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

5.根据权利要求1～4任一所述的方法，其特征在于，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，包括：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。

6.一种杂光检验设备，其特征在于，该设备包括处理器和存储器，所述存储器用于存储所述处理器可执行的程序，所述处理器用于读取所述存储器中的程序并执行如下步骤：

控制待检验的摄像头模组拍摄位于所述摄像头模组对面位置的测试光源，得到至少一张检验图像；

从所述检验图像中筛选出至少一个像素点，所述至少一个像素点的亮度值与相邻像素点的亮度值之间的差异大于阈值；

根据筛选出的至少一个像素点所形成的像素区域，确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像是否存在杂光，其中所述像素区域是基于一个像素点或具有相邻位置关系的多个像素点形成的。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述处理器具体被配置为执行：

若所述像素区域的面积大于第一阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光；和/或，

若所述像素区域的亮度值大于第二阈值，则确定所述摄像头模组拍摄得到的检验图像存在杂光。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述处理器具备被配置为通过如下方式确定所述像素区域的面积：

根据所述像素区域包含的像素点的数量，确定所述像素区域的面积；

所述处理器具备被配置为通过如下方式确定所述像素区域的亮度值：

根据所述像素区域包含的像素点的亮度值的总和，确定所述像素区域的亮度值。

9.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述从所述检验图像中筛选出至少一个像素点之前，所述处理器具体还被配置为执行：

将所述检验图像转换为具有彩色图像格式的检验图像；

将转换格式后的检验图像进行负片处理，得到负片处理后的检验图像。

10.根据权利要求6～9任一所述的设备，其特征在于，所述处理器具体被配置为执行：

通过频域滤波的方式，从所述检验图像中筛选出至少一个像素点。