[发明专利]半导体装置用基板、半导体装置用基板的制造方法以及半导体装置在审
| 申请号: | 202110235071.X | 申请日: | 2021-03-03 |
| 公开(公告)号: | CN113394115A | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
| 发明(设计)人: | 五郎丸佑也;上田旺 | 申请(专利权)人: | 麦克赛尔控股株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/14;H01L23/31 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 陈彦;孔博 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 用基板 制造 方法 以及 | ||
本发明提供一种半导体装置用基板、半导体装置用基板的制造方法以及半导体装置。本发明更廉价地提供一种简化了搭载衬垫主体部和外部电极主体部的结构、不对磁产生感应的具备搭载衬垫主体部和外部电极主体部的半导体装置用基板。本发明的半导体装置用基板在基板(16)的表面形成有外部电极(3)。外部电极(3)具备:形成于基板(16)表面的第三表面层(7)、形成于第三表面层(7)表面的外部电极主体部(9)、以及形成于外部电极主体部(9)表面的第四表面层(13)。外部电极(3)的外部电极主体部(9)由非磁性的Ni-P形成。
技术领域
本发明涉及在基板上形成有搭载衬垫、外部电极的半导体装置用基板、半导体装置用基板的制造方法、以及使用该半导体装置用基板且安装有半导体元件并对半导体元件以及外部电极等进行树脂密封的半导体装置。
背景技术
在本发明的半导体装置用基板中,由非磁性的Ni-P形成搭载衬垫和外部电极的主体部,但在专利文献1的半导体装置中公开了具备Ni-P层的搭载衬垫、外部电极。专利文献1的半导体装置中,半导体元件和外部电极被密封在树脂中,由非磁性的Cu层形成搭载衬垫的搭载衬垫主体部和外部电极的电极主体部,在Cu层与在半导体装置的安装面侧露出的表面层之间具备非磁性的Ni-P层。表面层是在未被抗蚀剂体覆盖的基板上电铸Au而形成的,Ni-P层是在Au层上实施无电解镀处理而形成的。Cu层是在Ni-P层上电铸Cu而以超过抗蚀剂体的厚度的状态形成的,在其上部周缘形成有突出部(overhang)。在Cu层的上表面,通过冲击镀处理形成Au层,进而在Au层的上表面实施电铸处理而形成Ag层。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2010-40679号公报
发明内容
发明所要解决的课题
根据专利文献1的半导体装置,因为搭载衬垫的搭载衬垫主体部和外部电极的电极主体部分别由非磁性的Cu层和Ni-P层形成,所以即使在将对磁产生感应的半导体元件固定于搭载衬垫的情况下,也不会对半导体元件造成磁性的恶劣影响。但是,由于依次实施电铸处理、无电解镀处理、电铸处理、冲击镀处理和电铸处理而层叠形成Au层、Ni-P层、Cu层、Au层、Ag层,因此半导体装置的制造工时增加,无法避免制造成本的相应增加。
本发明的目的在于,使非磁性的搭载衬垫(搭载衬垫主体部)、外部电极(外部电极主体部)的结构简化,能够更廉价地提供不对磁产生感应的半导体装置用基板、半导体装置。
用于解决课题的方法
本发明的半导体装置用基板在基板16的表面形成有外部电极3。外部电极3具备:形成于基板16表面的第三表面层7、形成于第三表面层7表面的外部电极主体部9、以及形成于外部电极主体部9表面的第四表面层13。外部电极3的外部电极主体部9的特征在于,由非磁性的Ni-P形成。
外部电极3的外部电极主体部9由Ni-P的电镀层形成。
外部电极3的外部电极主体部9的维氏硬度为400~600HV。
外部电极3的总厚度T1为20~100μm。
本发明的另一半导体装置用基板在基板16的表面形成有半导体元件1的搭载衬垫2和外部电极3。搭载衬垫2具备:形成于基板16表面的第一表面层6、形成于第一表面层6表面的搭载衬垫主体部8、以及形成于搭载衬垫主体部8表面的第二表面层12。外部电极3具备:形成于基板16表面的第三表面层7、形成于第三表面层7表面的外部电极主体部9、以及形成于外部电极主体部9表面的第四表面层13。搭载衬垫2的搭载衬垫主体部8和外部电极3的外部电极主体部9分别由非磁性的Ni-P形成。
搭载衬垫2的搭载衬垫主体部8和外部电极3的外部电极主体部9分别由Ni-P的电镀层形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





