[发明专利]柔性电路板缺陷圆检测方法、装置、介质和设备有效
申请号: | 202110234272.8 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN112991279B | 公开(公告)日: | 2023-02-14 |
发明(设计)人: | 罗家祥;鲁思奇;李巍 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/64;G06T7/66 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 郑浦娟 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 柔性 电路板 缺陷 检测 方法 装置 介质 设备 | ||
本发明公开了一种柔性电路板缺陷圆检测方法、装置、介质和设备,首先获取柔性电路板原始图像,并转换成灰度图像;使用阈值分割方法分割得到二值图像;提取二值图像中的轮廓,获每条线路轮廓;依据轮廓的像素点信息筛选出候选圆轮廓集,对候选圆轮廓集进行预处理;针对预处理后的候选圆轮廓集,进行圆弧拟合并计算平均拟合误差,根据平均拟合误差以及像素点与圆心的位置关系找到候选圆弧集,并保存每段候选圆弧的像素点,依次对每段候选圆弧进行有效性判定,筛选出有效圆并保存有效圆参数。本发明不仅可以准确的检测出柔性电路板中的圆孔,对于有缺陷的圆孔能够准确检测并得到精确的参数。
技术领域
本发明涉及图像处理技术应用领域,特别涉及一种柔性电路板缺陷圆检测方法、装置、介质和设备。
背景技术
柔性电路板是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性,绝佳的可挠性印刷电路板,简称软板或FPC,其以质量轻、厚度薄、可自由弯曲折叠等优良特性而备受青睐。其中,钻孔作为柔性电路板生产过程中的一项关键工艺技术,在生产过程中常常会出现一些缺陷(如尺寸类缺陷、边缘类缺陷和定位类缺陷),而这些缺陷或多或少会影响柔性电路板的性能,严重的甚至会导致柔性电路板无法正常使用,因此需要对钻孔缺陷进行严格的检测,以保证柔性电路板的质量。而在钻孔缺陷检测过程中,其核心是精确的检测柔性电路板上的圆孔并计算圆孔参数,因此,设计一种准确的柔性电路板缺陷圆检测方法具有重要的研究意义。
现有技术中常用的圆孔检测方法是基于CHT的检测方法和基于RCD的检测方法。基于CHT的检测方法是首先使用边缘检测器得到图像的边缘像素点,然后将边缘像素点映射到三维的霍夫圆空间,再通过投票筛选出柔性电路板的圆孔。而基于RCD的圆孔检测方法是重复地从图像的所有边缘像素点中随机选取4个像素,然后验证所选的像素是否属于图像中的一个真实的圆孔。由于柔性电路板的钻孔缺陷会导致检测到的钻孔边缘不是一个完整的圆孔,是一段圆弧与其他线路组成的边缘,而上述两种方法都不能检测到这样的缺陷圆孔。近来学者又提出了一种新的圆孔检测方法EDCircles,这种方法是一种基于圆弧的快速圆孔检测方法,它改进了圆孔检测的流程,减少了大量的计算时间,在一些实时检测的应用中有很大的优势,但对像柔性电路板这种包含多纹理的圆形目标的识别效果不佳,特别是对于有缺陷圆的柔性电路板来说,上述方法不仅不能得到准确的圆孔参数,甚至检测不出柔性电路板中的圆孔。
发明内容
本发明的第一目的在于克服现有技术的缺点与不足,提供一种柔性电路板缺陷圆检测方法,该方法可以准确的检测出柔性电路板中的圆孔并得到更加精确的圆孔参数,特别是对于有缺陷的圆,它能够准确检测出圆孔并判定钻孔缺陷。
本发明的第二目的在于提供一种柔性电路板缺陷圆检测装置。
本发明的第三目的在于提供一种存储介质。
本发明的第四目的在于提供一种计算设备。
本发明的第一目的通过下述技术方案实现:一种柔性电路板缺陷圆检测方法,步骤包括:
步骤S1、获取柔性电路板原始图像,并转换成灰度图像;对灰度图像进行分割得到二值图像;提取二值图像中的轮廓,获得图像上的每条线路轮廓;
步骤S2、针对图像上提取出的每条线路轮廓,依据轮廓的像素点信息筛选出候选圆轮廓集,然后对候选圆轮廓集进行预处理;
步骤S3、针对预处理后的候选圆轮廓集,进行圆弧拟合并计算平均拟合误差,然后根据平均拟合误差以及像素点与圆心的位置关系找到候选圆弧集,并保存每段候选圆弧的像素点;
步骤S4、依次对每段候选圆弧进行有效性判定,筛选出有效圆并保存有效圆的参数。
优选的,步骤S1中,从柔性电路板原始图像到提取出图像上每条线路轮廓的具体过程如下:
步骤S11、首先对柔性电路板原始图像进行高斯滤波处理,然后将高斯滤波后的图像转换为柔性电路板灰度图像;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110234272.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。