[发明专利]用于流量捕捉和调试工具的图形用户界面

说明书

本文涉及用于流量捕捉和调试工具的图形用户界面。一种用于利用自动化测试设备(ATE)来诊断失效的原因的方法包括：利用与监视应用相关联的图形用户界面(GUI)来配置可编程逻辑器件中的多个捕捉模块。该方法还包括：利用多个捕捉模块来监视被测器件(DUT)与可编程逻辑器件之间的数据流量，其中，多个捕捉模块是可编程的并且可操作以选择性地捕捉要被监视的数据流量。另外，该方法包括：从与多个捕捉模块中的每一者相关联的各个存储器将与监视相关联的结果取回到监视应用中并且在取回后分析结果。

相关申请的交叉引用

本申请是2018年5月16日递交的标题为“TRAFFIC CAPTURE AND DEBUGGING TOOLSFOR IDENTIFYING ROOT CAUSES OF DEVICE FAILURE DURING AUTOMATED TESTING(用于识别在自动化测试期间 的设备失效的根本原因的流量捕捉和调试工具)”、发明人为LindenHsu、Ben Rogel-Favila、Michael Jones、Duane Champoux和Mei-Mei Su、 代理人案卷号为ATSY-0066-01.01US的美国专利申请号15/981,634的部分 延续案，通过引用将该美国专利申请全部内容并入本文以用于所有目的。

技术领域

本公开总体涉及电子器件测试系统的领域，更具体地，涉及用于测试 被测器件(device under test，DUT)的电子器件测试设备的领域。

背景技术

自动化测试设备(automated test equipment，ATE)可以是对半导体器 件或电子组装件执行测试的任何测试组装件。ATE组装件可用于执行自动 化测试，这些自动化测试迅速地执行测量并且生成随后可被分析的测试结 果。ATE组装件可以是从耦合到仪表的计算机系统，到复杂的自动化测试 组装件的任何东西，其中该自动化测试组装件可包括定制的专用计算机控 制系统和许多不同的测试仪器，这些测试仪器能够自动测试电子部件和/或 进行半导体晶圆测试，例如片上系统(system-on-chip，SOC)测试或集成 电路测试。ATE系统既减少了为确保器件如设计那样运行而花费在测试器 件上的时间量，也充当一种诊断工具，用以在给定器件到达消费者之前确 定该器件内的故障组件的存在。

传统ATE的缺陷之一是它们通常只报告通过/未通过结果。换言之，ATE只报告一个或多个被测器件(DUT)是否通过或者未通过正被执行的 相应测试。ATE并未被配置为识别在合格性测试期间发生的器件失效的根 本原因。通常，ATE中不会内置有将使得工程师能够容易地诊断DUT的 问题所在的任何基于硬件或软件的工具。

在典型的测试环境中，操作ATE的工程师将通过收集数据日志并且对 日志执行分析来手动识别失效的原因。这个方案是劳力密集的、易出错的 并且不可扩展的。其也可能不会产生期望的结果，因为可能没有足够的信 息供工程师用来确定要分析哪些数据日志或者如何在数据日志内找到器件 失效的根本原因。另外，传统的ATE系统不包含内置到硬件中的、将会帮 助工程师捕捉和自动解读及分析与测试有关的诊断信息的任何智能。

而且传统的ATE系统不向用户提供下述图形用户界面(graphical userinterface，GUI)：允许用户控制硬件测试系统的具体方面并且还以无缝且 高效的方式合成并向用户提供结果的GUI。另外，传统的ATE系统不提 供下述GUI：提醒用户测试结果中的需要进一步关注的可疑状况或者允许 用户添加、删除、修改或保存可疑状况的GUI。另外，传统测试器系统的 GUI不向用户提供源数据与被标记的状况之间的链接。

发明内容

因此，存在对下述ATE的需求：该ATE包括基于硬件的流量捕捉模 块，这些模块收集和监视在测试器和被测器件(DUT)之间交换的数据以 便收集关于测试器随时间的状态和在测试器与DUT之间交换的数据的有 价值信息。另外，存在对下述基于硬件的逻辑模块的需求：针对器件失效 前兆执行监视的基于硬件的逻辑模块，该器件失效前兆提供关于有可能将 要失效的器件的信息。