[发明专利]用于流量捕捉和调试工具的图形用户界面在审

专利信息
申请号: 202110234149.6 申请日: 2021-03-03
公开(公告)号: CN113484710A 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 潘佩琳;林登·许 申请(专利权)人: 爱德万测试公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R31/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 郭妍
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 流量 捕捉 调试 工具 图形 用户界面
【权利要求书】:

1.一种用于利用自动化测试设备(ATE)来诊断失效的原因的方法,所述方法包括:

利用从与监视应用相关联的图形用户界面(GUI)接收的输入来配置可编程逻辑器件中的多个捕捉模块;

利用所述多个捕捉模块监视被测器件(DUT)与所述可编程逻辑器件之间的数据流量,其中,所述多个捕捉模块是能编程的并且能操作以选择性地捕捉要被监视的数据流量,其中,所述数据流量包括所述DUT与所述可编程逻辑器件之间的流量流,其中,所述多个捕捉模块是利用多个阶段配置的,并且其中,所述DUT与所述可编程逻辑器件之间的流量流通过所述多个阶段被处理;

从与所述多个捕捉模块中的每一者相关联的各个存储器将与监视相关联的结果取回到所述监视应用中;并且

在取回后分析所述结果。

2.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个捕捉模块包括多个不同类型的捕捉模块,并且其中,所述分析包括对来自不同类型的捕捉模块的结果执行不同的分析。

3.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个阶段中的每个阶段被配置为包括所述多个捕捉模块中的一者或多者。

4.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个捕捉模块中的每个捕捉模块能操作以被编程为分析所述数据流量并且识别在所述多个阶段中与相应捕捉模块相关联的阶段期间与所述DUT有关的差错状况。

5.如权利要求1所述的方法,其中,所述可编程逻辑器件是现场可编程门阵列(FPGA),并且其中,所述多个捕捉模块中的每个捕捉模块包括逻辑电路,用以识别和标记在所述多个阶段中与相应捕捉模块相关联的阶段期间发生的与所述DUT有关的差错状况。

6.如权利要求1所述的方法,其中,所述分析包括:

实现规则检查器,所述规则检查器能操作以解析所述数据流量并且对所述数据流量执行一组规则以识别差错状况。

7.如权利要求1所述的方法,其中,所述分析包括分析所述数据流量并且识别在所述多个阶段中与相应捕捉模块相关联的阶段期间与所述DUT有关的差错状况。

8.如权利要求1所述的方法,还包括:

处理并且组织所述结果;并且

通过所述GUI以结构化的方式来向用户显示所述结果,其中,所述结果包括在所述数据流量中识别出的差错的根本原因。

9.如权利要求1所述的方法,其中,所述分析包括:

自动地分析所述结果内包括的日志,以识别与所述DUT相关联的失效的根本原因。

10.如权利要求1所述的方法,其中,所述分析包括:

识别所述结果中的差错签名,其中,所述差错签名包括所述数据流量中的特定模式;

通过经由所述GUI渲染和显示信息,来向用户报告与所述差错签名相关联的状况。

11.如权利要求1所述的方法,其中,所述分析包括:

聚合来自所述多个捕捉模块和所述ATE的其他组件的数据流量;并且

识别所述数据流量中的差错状况。

12.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个捕捉模块包括链路训练状态状态机(LTSSM)模块类型,并且其中,所述分析还包括:

将所述监视应用中的规则检查器配置为检查与所述LTSSM模块类型相关联的规则,其中,所述规则检查器包括一个或多个规则;并且

响应于与所述规则检查器相关联的规则违反,通过所述GUI来向用户标记差错。

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