[发明专利]小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中，确定每个栅格的MR采样点覆盖率，该MR采样点用于表示目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务；针对每个所述栅格，根据栅格的MR采样点覆盖率，确定栅格是否为弱覆盖栅格；若栅格为弱覆盖栅格，则根据弱覆盖栅格内每个MR采样点，确定弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素；若不存在所述影响因素，则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。本申请实施例提供的方法能够快速精确地分析小区弱覆盖问题，进而能够提供较优的弱覆盖的解决方案，避免弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。

技术领域

本申请实施例涉及小区弱覆盖分析技术领域，尤其涉及一种小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着移动通信技术的发展，移动通信网络质量越来越受重视，其中，良好的无线覆盖是保证移动通信网络质量的前提，但是，无线覆盖往往存在弱覆盖问题，弱覆盖的发现来源主要有路测、用户投诉、测量报告(Measurement Report，MR)数据等。

目前，弱覆盖的成因分为多种，现网中一部分的弱覆盖问题并不是站间距过大导致的，其中涉及到故障、工程质量、天馈工参不合理、功率设置不合理等各式各样的因素，现有的技术方案着重于如何对弱覆盖区域进行定位，但是针对弱覆盖成因的分析往往通过人工分析，浪费资源且分析难度大、精准度较低，进而无法提供较优的弱覆盖的解决方案，导致弱覆盖问题的解决时长和周期较长。

因此，现有技术无法快速精确地分析小区弱覆盖问题，进而无法提供较优的弱覆盖的解决方案，导致弱覆盖问题的解决时长和周期较长。

发明内容

本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析方法、装置、设备及存储介质，能够快速精确地分析小区弱覆盖问题，进而能够提供较优的弱覆盖的解决方案，避免弱覆盖问题的解决时长和周期较长的问题。

第一方面，本申请实施例提供一种小区弱覆盖分析方法，包括：

将目标区域的全量MR采样点布局在预设规格的栅格中，确定每个栅格的MR采样点覆盖率，所述MR采样点用于表示所述目标区域内一个终端在一个采样时间点内使用的业务；

针对每个所述栅格，根据所述栅格的MR采样点覆盖率，确定所述栅格是否为弱覆盖栅格；

若所述栅格为弱覆盖栅格，则根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点，确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素；

若不存在所述影响因素，则对所述弱覆盖栅格进行覆盖调优。

在一种可能的设计中，所述确定每个栅格的MR覆盖率，包括：

获取全量MR采样点中的每个MR采样点的信息，所述MR采样点的信息包括主服务小区的参考信号接收功率、至少一个邻小区的参考信号接收功率、所述主服务小区的PCI、所述主服务小区的经纬度信息、所述主服务小区的方位角信息、所述至少一个邻小区的经纬度信息以及所述至少一个邻小区的方位角信息；

根据每个所述MR采样点的信息，计算每个所述MR采样点的经纬度信息；

根据每个所述MR采样点的经纬度信息，计算每个栅格的MR覆盖率。

在一种可能的设计中，所述根据所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点，确定所述弱覆盖栅格是否存在弱覆盖的影响因素，包括：

针对所述弱覆盖栅格内每个所述MR采样点，确定是否满足多个影响因素类型中任一影响因素类型匹配的影响条件，所述多个影响因素类型至少包括：漏配邻区类型、切换不及时类型以及故障影响类型；

若满足任一影响因素类型匹配的影响条件，则确定存在所述影响因素，并根据所述影响因素类型进行小区覆盖优化；