[发明专利]一种偏光片外观缺陷检测系统

说明书

本发明公开了一种偏光片外观缺陷检测系统及检测方法，其偏光片外观缺陷检测系统包括PLC控制器，与PLC控制器电气连接的投料工站、上料工站、输送工站、第一工位检测工站、第二工位检测工站、下料工站，还包括服务器，服务器与PLC控制器、第一工位检测工站和第二工位检测工站电气连接。本发明提供的一种偏光片外观缺陷检测系统及检测方法，主要是从第一工位检测工站和第二工位检测工站对偏光片进行全面检测，采用双视场成像的原理实现大视场的扫描和定位，进而实现微小缺陷的高分辨成像，通过低分辨线扫相机和高分辨面阵相机的结合，用低分辨线扫进行大范围扫描和定位，用高分辨面阵确定孔周围缺陷，可实现小孔的快速定位和缺陷的高效识别。

技术领域

本发明涉及偏光片缺陷检测技术领域，尤其是涉及一种偏光片外观缺陷检测系统。

背景技术

偏光片被广泛应用于液晶显示器中，它对液晶显示器的亮度、对比度、可视角等光学性能有着重要的影响，其视觉缺陷(外观缺陷)会直接导致液晶显示器不合格。偏光片外观缺陷种类繁多，根据缺陷所处的位置可分为基板缺陷、糊面缺陷、保护膜缺陷等，根据缺陷的外观特征可以分为异物、划伤、折痕、打痕、气泡等缺陷。

目前，对偏光片光学性能检测技术的研究较为集中，而外观缺陷检测仍然普遍采用人工方法，利用人眼进行外观分辨，人工检测方法劳动强度大，检测效率慢，容易受到人眼分辨能力和易疲劳等主观因素的影响，而一些缺陷的尺寸远低于人眼目视分辨的最小极限，因而容易漏检，进而影响良品率及完工进度，不能够满足大批量生产的要求。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种偏光片外观缺陷检测系统，能够保证测量的精度、检测的准确性，实现低成本、高精度和稳定性的偏光片外观缺陷检测。

为实现上述目的，本发明采用以下内容：

一种偏光片外观缺陷检测系统，包括：

投料工站，若干待检测偏光片经人工投放至投料工站的上料仓中；

上料工站，用于吸取投料工站上待检测偏光片组中最上层的一张偏光片；

输送工站，承接上料工站所吸取的偏光片，并进行输送；

第一工位检测工站，对输送中的偏光片进行尺寸检测；

第二工位检测工站，对输送中的偏光片进行圆孔缺陷检测；

下料工站，用于吸取输送工站上的偏光片；

还包括PLC控制器和服务器，所述PLC控制器分别与投料工站、上料工站、输送工站、第一工位检测工站、第二工位检测工站、下料工站电气连接，所述服务器与PLC控制器、第一工位检测工站和第二工位检测工站电气连接。

优选的是，所述第一工位检测工站包括光源和至少一个线扫相机，所述光源设置于线扫相机的下方，并且与线扫相机上的镜头同轴。

优选的是，所述线扫相机的像素为5472*3048，像元尺寸为2.4μm*2.4μm。

优选的是，所述第二工位检测工站包括面阵相机，所述面阵相机与一条形光源配合。

优选的是，所述面阵相机为8192像素面阵相机，其像元尺寸为5μm。

一种利用偏光片外观缺陷检测系统的检测方法，包括如下步骤：

步骤1：人工上料，将待检测偏光片组放入投料工站中，使投料工站对偏光片组进行自动投料；

步骤2：上料工站吸取偏光片组最上层的一个偏光片，并将该偏光片放置到输送工站的起始位置；

步骤3：输送工站开始传送，使得输送工站上的偏光片依次经过第一工位检测工站和第二工位检测工站，之后偏光片运动至输送工站的终止位置；