[发明专利]一种偏光片外观缺陷检测系统在审
申请号: | 202110209231.3 | 申请日: | 2021-02-24 |
公开(公告)号: | CN113030095A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 张保红 | 申请(专利权)人: | 杭州微纳智感光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310019 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 偏光 外观 缺陷 检测 系统 | ||
1.一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,包括:
投料工站,若干待检测偏光片经人工投放至投料工站的上料仓中;
上料工站,用于吸取投料工站上待检测偏光片组中最上层的一张偏光片;
输送工站,承接上料工站所吸取的偏光片,并进行输送;
第一工位检测工站,对输送中的偏光片进行尺寸检测;
第二工位检测工站,对输送中的偏光片进行圆孔缺陷检测;
下料工站,用于吸取输送工站上的偏光片;
还包括PLC控制器和服务器,所述PLC控制器分别与投料工站、上料工站、输送工站、第一工位检测工站、第二工位检测工站、下料工站电气连接,所述服务器与PLC控制器、第一工位检测工站和第二工位检测工站电气连接。
2.根据权利要求1所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,所述第一工位检测工站包括光源和至少一个线扫相机,所述光源设置于线扫相机的下方,并且与线扫相机上的镜头同轴。
3.根据权利要求2所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,所述线扫相机的像素为5472*3048,像元尺寸为2.4μm*2.4μm。
4.根据权利要求2所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,所述第二工位检测工站包括面阵相机,所述面阵相机与一条形光源配合。
5.根据权利要求4所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,所述面阵相机为8192像素面阵相机,其像元尺寸为5μm。
6.一种利用如权利要求1-5中任意一项所述的偏光片外观缺陷检测系统的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1:人工上料,将待检测偏光片组放入投料工站中,使投料工站对偏光片组进行自动投料;
步骤2:上料工站吸取偏光片组最上层的一个偏光片,并将该偏光片放置到输送工站的起始位置;
步骤3:输送工站开始传送,使得输送工站上的偏光片依次经过第一工位检测工站和第二工位检测工站,之后偏光片运动至输送工站的终止位置;
步骤4:下料工站吸取运动至输送工站终止位置的偏光片,并将该偏光片放入对应的料盘收纳盒中。
7.根据权利要求6所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,所述步骤3中,第一工位检测工站上的线扫相机以及第二工位检测工站上的面阵相机对经过的偏光片的表面进行拍照测试,并将测试图像传输给服务器,服务器对图像数据进行计算处理。
8.根据权利要求7所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,所述服务器将检测结果反馈给PLC控制器,所述PLC控制器根据反馈结果操控步骤4中的下料工站将偏光片放入相应的料盘收纳盒中进行分类存储。
9.根据权利要求8所述的一种偏光片外观缺陷检测系统,其特征在于,若所述服务器的检测结果中未发现偏光片存在外观缺陷,则PLC控制器根据该良好检测结果操控下料工站将偏光片放入OK料盘收纳盒中;若所述服务器的检测结果中发现偏光片存在外观缺陷,则PLC控制器根据该不良检测结果操控下料工站将偏光片放入NG料盘收纳盒中。
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