[发明专利]存储装置及其操作方法

权利要求书

1.一种存储器装置包括：

存储器单元阵列，包括多个存储器单元；

外围电路，执行编程操作，所述编程操作增加所述多个存储器单元的阈值电压使得所述多个存储器单元的所述阈值电压被包括在根据编程状态的电压大小而分开的多个编程状态中的任意一个中；

循环计数存储装置，分别存储针对所述多个编程状态的第一通过循环计数和第二通过循环计数，在执行所述编程操作的同时确定所述编程状态；以及

编程验证器，当所述编程操作完成时，计算差值，所述差值中的每一个是所述编程状态中相应一个编程状态的第一通过循环计数和第二通过循环计数之间的差值，并且根据是否所述差值中的至少一个超过参考值来输出所述编程操作的结果，所述编程操作的结果指示通过状态或失败状态。

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述编程操作包括多个编程循环，并且

所述第一通过循环计数指示最初感测到已经通过分别对应于所述多个编程状态的验证操作的存储器单元的编程循环。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中所述第二通过循环计数指示完成对所述多个编程状态中的每一个的验证的编程循环。

4.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述编程操作包括多个编程循环，并且

所述第一通过循环计数指示当已经通过分别对应于所述多个编程状态的验证操作的存储器单元超过第一参考数量时的编程循环。

5.根据权利要求4所述的存储器装置，其中所述第二通过循环计数指示当在针对每个目标编程状态的验证中已经通过分别对应于所述多个编程状态的验证操作的存储器单元超过第二参考数量时的编程循环。

6.根据权利要求1所述的存储器装置，其中当所述差值之中的至少一个差值超过所述参考值时，所述编程验证器输出处于失败状态的所述编程操作的结果。

7.根据权利要求1所述的存储器装置，进一步包括：

状态寄存器，存储执行所述编程操作的结果。

8.一种操作存储器装置的方法，所述方法包括：

执行编程操作，所述编程操作增加多个存储器单元的阈值电压使得存储器单元阵列中的所述多个存储器单元的所述阈值电压被包括在根据编程状态的电压大小而分开的多个编程状态中的任意一个中；

分别存储针对所述多个编程状态的第一通过循环计数和第二通过循环计数，在执行所述编程操作的同时确定所述编程状态；

当所述编程操作完成时，计算差值，所述差值中的每一个是所述编程状态中相应一个编程状态的所述第一通过循环计数和所述第二通过循环计数之间的差值；并且

根据是否所述差值中的至少一个超过参考值来确定所述编程操作是通过还是失败。

9.根据权利要求8所述的方法，其中确定所述编程操作是通过还是失败包括：

响应于所述差值中的至少一个超过所述参考值而生成指示所述编程操作失败的所述编程操作的结果；并且

将执行所述编程操作的所述结果存储在状态寄存器中。

10.根据权利要求8所述的方法，其中所述编程操作包括多个编程循环，并且

所述第一通过循环计数指示最初感测到已经通过分别对应于所述多个编程状态的验证操作的存储器单元的编程循环。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述第二通过循环计数指示完成对所述多个编程状态中的每一个的验证的编程循环。

12.根据权利要求8所述的方法，其中所述编程操作包括多个编程循环，并且

所述第一通过循环计数指示当分别对应于所述多个编程状态的验证操作已通过的存储器单元超过第一参考数量时的编程循环。