[发明专利]用于检查晶体管组件的功能性的方法和电子电路

说明书

本公开所描述的是一种用于检查晶体管组件(1)的功能性的方法和电子电路。该方法包括：对晶体管组件的驱控端子(G，S)之间存在的内部电容(11)的充电状态的第一改变；基于充电状态的第一改变确定内部电容(11)的电容值(C_GS)；对内部电容(11)的充电状态的第二改变；以及基于所确定的电容值(C_GS)和充电状态的第二改变，评估驱控端子(G，S)之间存在的内部电阻(12)的电阻值(R_GS)。

技术领域

本说明书涉及一种用于检查晶体管组件，特别是具有绝缘栅极的晶体管组件的功能性(完整性)的方法和电路。

背景技术

具有绝缘栅极的晶体管组件，例如MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)或IGBT(绝缘栅双极晶体管)，在许多领域被广泛用作电子开关，例如在汽车领域、工业领域、家用电器领域或娱乐电子设备领域。根据应用领域的不同，此类晶体管组件的耐压强度会在几十伏(V)和几千伏(kV)之间改变。

在制造过程结束时，检查晶体管组件的功能。但是，在某些应用中，尤其是在安全性至关重要的应用中，例如在机动车辆中，有必要在操作期间检查晶体管组件的功能性(完整性)，以便在晶体管组件出现故障时能够采取适当的措施。

发明内容

需要一种用于在操作期间检查晶体管组件的功能性的方法，该方法尽可能地不影响晶体管组件的操作，并且需要一种用于执行这种方法的电路。

一个示例涉及一种用于检查晶体管组件的功能性的方法。该方法包括：对晶体管组件的驱控端子之间存在的内部电容的充电状态的第一改变；基于充电状态的第一改变，确定内部电容的电容值；对内部电容的充电状态的第二改变；以及基于所确定的电容值和对充电状态的第二改变，评估驱控端子之间存在的内部电阻的电阻值。

另一示例涉及一种电子电路，该电子电路被设计为：连接至晶体管组件的驱控端子；对晶体管组件的驱控端子之间存在的电容的充电状态执行第一改变；基于充电状态的第一改变，确定电容的电容值；对晶体管组件的驱控端子之间存在的电容的充电状态的第二改变；并基于所确定的电容值和对充电状态的第二改变，评估，确定在驱控端子之间存在的电阻的电阻值。

附图说明

下面参考附图说明示例。附图旨在说明某些原理，因此仅示出了对于理解这些原理所必需的方面。附图并未按比例绘制。

图1示出了代表用于晶体管组件的应用示例的电路；

图2示意性地示出了处于导通状态和截止状态的晶体管组件的驱控电压和负载路径电压的信号曲线；

图3A和图3B示出了用于驱控晶体管组件的驱动器电路的示例；

图4示出了用于检查晶体管组件的功能性的方法的示例的流程图，该方法包括对晶体管组件的内部电容的充电状态的第一改变和第二改变；

图5和图6示意性地示出了基于晶体管部件的驱控电压的信号曲线的内部电容的充电状态的第一改变和第二改变的示例；

图7示出了具有晶体管组件的电路布置和用于检查晶体管组件的功能性的电路；

图8示出了信号曲线，其描述了用于检查晶体管组件的功能性的方法的第一示例；

图9A和9B示出了适合于执行根据图8的方法的电路装置的示例；

图10示出了被设计为提供两个不同的电源电压的电压电源电路的示例；

图11是具有晶体管部件和外部放电电阻的电路的示例；

图12示出了信号曲线，其描述了用于检查外部放电电阻的方法；

图13示出了根据图9的电路的变型；