[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202110181003.X 申请日: 2021-02-09
公开(公告)号: CN113284861A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 酒井纯也 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【说明书】:

得到能够长期保管、能够确保可靠性的半导体装置。基座板(2)具有彼此相反侧的散热面(2a)和安装面(2b)。半导体芯片(9)安装于基座板(2)的安装面(2b)。封装材料(17)将半导体芯片(9)封装。具有多个开口(19)的第1片材(7)与基座板(2)的散热面(2a)密接。第2片材(8)覆盖第1片材(7)。

技术领域

本发明涉及半导体装置。

背景技术

就以往的半导体装置而言,基座板的稍微腐蚀、生锈不是问题。随着半导体装置的换代,电流容量不断变大。与此相伴,无法再忽视基座板的腐蚀、生锈的问题。如果基座板发生腐蚀、生锈,则有可能成为将通电时的发热进行散热的障碍,诱发半导体装置的异常发热,损害可靠性。即使在主端子、辅助端子处发生生锈、腐蚀,也能够通过研磨而修复,但由于基座板的平面度受到管理,因此无法通过研磨进行修复。特别地,就使用了宽带隙半导体的半导体装置而言,电流容量的大型化比以往的产品更为显著,因此轻微的腐蚀、生锈的程度的差异对可靠性带来大的影响。也存在镀敷处理昂贵这一问题。与此相对,提出了为了防止腐蚀、生锈,对基座板涂抹油脂而出厂的方法(例如,参照专利文献1)。

专利文献1:日本特开平11-168161号公报

但是,通常油脂会随时间劣化,因此如果半导体装置在出厂后长期在用户的仓库等中进行保管,则会失去原有的散热性能。另外,由于运输时的冲击或者振动而使油脂的厚度产生偏差,损害可靠性。

发明内容

本发明就是为了解决上述这样的课题而提出的,其目的在于得到能够长期保管、能够确保可靠性的半导体装置。

本发明涉及的半导体装置的特征在于,具有:基座板,其具有彼此相反侧的散热面和安装面;半导体芯片,其安装于所述基座板的所述安装面;封装材料,其将所述半导体芯片封装;第1片材,其与所述基座板的所述散热面密接,具有多个开口;以及第2片材,其覆盖所述第1片材。

发明的效果

在本发明中,具有多个开口的第1片材与基座板的散热面密接,第2片材覆盖第1片材。在即将安装半导体装置之前,将第2片材剥离,将第1片材用作掩模而将油脂涂覆于基座板。由于在即将使用之前涂覆油脂,因此能够排除油脂随时间劣化的担忧。另外,第2片材覆盖第1片材,因此能够防止基座板的散热面与外部接触。由此,能够防止基座板在运输过程中、使用时由除温度以外的外部环境引起腐蚀或者生锈。因此,能够长期保管、能够确保可靠性。

附图说明

图1是表示实施方式涉及的半导体装置的侧视图。

图2是表示实施方式涉及的半导体装置的俯视图。

图3是表示实施方式涉及的半导体装置的仰视图。

图4是表示实施方式涉及的半导体装置的内部构造的剖视图。

图5是表示实施方式涉及的半导体装置的将第2片材剥离后的状态的仰视图。

图6是表示实施方式涉及的半导体装置的将第1片材剥离后的状态的仰视图。

图7是表示实施方式涉及的半导体装置的变形例1的俯视图。

图8是表示实施方式涉及的半导体装置的变形例1的仰视图。

图9是表示实施方式涉及的半导体装置的变形例1的将第2片材剥离后的状态的仰视图。

图10是表示实施方式涉及的半导体装置的变形例1的将第1片材剥离后的状态的仰视图。

图11是表示实施方式涉及的半导体装置的变形例2的内部构造的剖视图。

具体实施方式

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