[发明专利]打线、打线封装结构、打线系统及打线方法在审
| 申请号: | 202110180863.1 | 申请日: | 2021-02-09 |
| 公开(公告)号: | CN113013135A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
| 发明(设计)人: | 颜尤龙;博恩·卡尔·艾皮特 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京植德律师事务所 11780 | 代理人: | 唐华东 |
| 地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 封装 结构 系统 方法 | ||
1.一种打线,包括有至少两个键合区,其中,所述打线中键合区部分未包覆绝缘层,所述打线中键合区以外的非键合区部分包覆有绝缘层。
2.根据权利要求1所述的打线,其中,所述打线为金线。
3.根据权利要求1所述的打线,其中,所述绝缘层为防焊漆。
4.一种打线封装结构,包括打线、第一焊垫和第二焊垫,其中,所述打线分别与所述第一焊垫和所述第二焊垫形成相应键合区,所述打线中键合区部分未包覆绝缘层,所述打线中键合区以外的非键合区部分包覆有绝缘层。
5.根据权利要求4所述的打线封装结构,其中,所述打线为金线。
6.根据权利要求4所述的打线封装结构,其中,所述绝缘层为防焊漆。
7.根据权利要求4所述的打线封装结构,其中,所述第一焊垫为晶片上的焊垫,所述第二焊垫为封装基板上的焊垫或者导线架上的焊垫。
8.一种打线系统,包括:移除单元与打线单元,所述移除单元包括长度计算模组、移除模组与清洗模组,其中:
所述长度计算模组,被配置成:计算当前打线操作对应的至少两个键合区中每个键合区的位置和长度;
所述移除模组,被配置成:按照所述长度计算模组计算得到的每个键合区的位置和距离,使用激光移除绝缘导线表面的绝缘层;
所述清洗模组,被配置成:清洗所述绝缘导线上所述移除模组移除绝缘层所遗留的绝缘层残留物,以形成打线,所述打线有至少两个键合区,其中,所述打线中键合区部分未包覆绝缘层,所述打线中键合区以外的非键合区部分包覆有绝缘层;
所述打线单元,被配置成:对所述打线按照所述长度计算模组计算得到的每个键合区的位置和距离进行打线键合操作。
9.根据权利要求8所述的打线系统,其中,所述使用激光移除绝缘导线表面的绝缘层,包括:
使用二氧化碳激光移除绝缘导线表面的绝缘层。
10.根据权利要求8所述的打线系统,其中,所述清洗所述绝缘导线上所述移除模组移除绝缘层所遗留的绝缘层残留物,包括:
使用电浆清洗所述绝缘导线上所述移除模组移除绝缘层所遗留的绝缘层残留物。
11.根据权利要求8所述的打线系统,其中,所述对所述打线按照所述长度计算模组计算得到的每个键合区的位置和距离进行打线键合操作,包括:
将所述打线缠绕进卷线器,使用打线接合工具对所述打线按照所述长度计算模组计算得到的每个键合区的位置和距离进行打线键合操作。
12.一种打线方法,包括:
计算当前打线操作对应的至少两个键合区中每个键合区的位置和长度;
按照计算得到的每个键合区的位置和距离,使用激光移除绝缘导线表面的绝缘层;
清洗所述绝缘导线上所遗留的绝缘层残留物,以形成打线,所述打线有至少两个键合区,其中,所述打线中键合区部分未包覆绝缘层,所述打线中键合区以外的非键合区部分包覆有绝缘层;
对所述打线按照计算得到的每个键合区的位置和距离进行打线键合操作。
13.根据权利要求12所述的打线方法,其中,所述使用激光移除绝缘导线表面的绝缘层,包括:
使用二氧化碳激光移除绝缘导线表面的绝缘层。
14.根据权利要求12所述的打线方法,其中,所述清洗所述绝缘导线上所遗留的绝缘层残留物,包括:
使用电浆清洗所述绝缘导线上所遗留的绝缘层残留物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体制造股份有限公司,未经日月光半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110180863.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于水下摄像技术的明流床面颗粒观测系统及试验方法
- 下一篇:腭帆张肌电疗仪





