[发明专利]一种用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测装置，其特征在于，包括：

中子源(110)，用于产生中子照相无损检测的中子束流；

样品台(130)，用于放置检测样品；

中子光路传输系统(150)，用于供中子束流传输；和

中子探测系统(170)，用于接收中子束流并记录检测成像信息；

其中，所述中子源(110)、所述样品台(130)、所述中子光路传输系统(150)和所述中子探测系统(170)沿着第一方向依次排布设置；

所述中子光路传输系统(150)为真空管状结构；

所述中子光路传输系统(150)的内表面设有中子超镜反射镀层(156)；

所述中子光路传输系统(150)包括中空的管体(152)和端板(154)；所述端板(154)设置在所述管体(152)的两端并将所述管体(152)密封；所述中子超镜反射镀层(156)为设置在所述管体(152)的内表面的反射层；

所述端板(154)为金属板。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述样品台(130)可转动地设置在所述中子源(110)和所述中子光路传输系统(150)之间。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述样品台(130)包括托盘(132)和转动结构(134)；所述托盘(132)固定安装在所述转动结构(134)。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于：所述转动结构(134)为转轴。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述端板(154)为铝板。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述中子超镜反射镀层(156)的反射率大于或等于4。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述中子探测系统(170)包括中子转换屏和相机。

8.一种采用根据权利要求1至7中任一项所述检测装置执行的用于放射性样品直接中子照相无损检测的检测方法，其特征在于，包括：

沿着第一方向依次排布设置中子源、样品台、中子光路传输系统和中子探测系统；

将检测样品放置在所述样品台上，启动所述中子源产生中子束流，并控制中子束流穿透检测样品并进入所述中子光路传输系统传输；

所述中子探测系统接收从所述中子光路传输系统出射的中子束流，并记录检测成像信息。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于：在沿着第一方向依次排布设置中子源、样品台、中子光路传输系统和中子探测系统之前，所述检测方法还包括：

根据检测样品的性质确定所述中子光路传输系统的长度。

10.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于：将检测样品放置在所述样品台上，启动所述中子源产生中子束流，并控制中子束流穿透检测样品并进入所述中子光路传输系统传输，包括：

将检测样品放置在所述样品台上，控制所述样品台转动；

启动所述中子源产生中子束流，并控制中子束流穿透检测样品并进入所述中子光路传输系统传输。