[发明专利]一种地面检测方法、装置、电子设备、系统及介质

权利要求书

1.一种地面检测方法，其特征在于，所述方法包括：

通过固定设置于移动目标上的至少四个测距模块，获取至少四个地面检测点数据；

将至少四个地面检测点数据中不共线的至少三个地面检测点数据，作为拟合检测点数据，拟合得到理论地平面；

根据至少四个地面检测点数据中，除所述拟合检测点数据之外的验证检测点数据与所述理论地平面的位置关系，确定所述移动目标所在地面的平整度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，至少四个测距模块分别设置于所述移动目标上与移动方向垂直的方向上的两侧，以及移动方向上的前侧。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过固定设置于移动目标上的至少四个测距模块，获取至少四个地面检测点数据，包括：

控制所述至少四个测距模块按照预设频率同时对所述移动目标所在地面进行检测；

获取所述至少四个测距模块每次同时对所述移动目标所在地面进行检测得到的至少四个地面检测点。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将至少四个地面检测点数据中不共线的至少三个地面检测点数据，作为拟合检测点数据，拟合得到理论地平面，包括：

根据所述拟合检测点数据坐标的表现形式，建立对应类型的平面方程；

根据所述拟合检测点数据，求解所述平面方程，得到理论地平面。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据至少四个地面检测点数据中，除所述拟合检测点数据之外的验证检测点数据与所述理论地平面的位置关系，确定所述移动目标所在地面的平整度，包括：

根据所述平面方程，建立理论地平面对应的平面函数；

根据所述验证检测点数据的平面函数值，确定所述移动目标所在地面的平整度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据至少四个地面检测点数据中，除所述拟合检测点数据之外的验证检测点数据与所述理论地平面的位置关系，确定所述移动目标所在地面的平整度，包括：

计算位于所述理论地平面任意一侧的参考点的平面函数值；

确定所述参考点的平面函数值，以及所述验证检测点数据的平面函数值的符号是否一致；

根据判断结果，确定所述验证检测点数据位于所述理论地平面的位置。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述验证检测点数据相对于所述理论地平面的位置，绘制所述验证检测点数据随移动目标运动轨迹的曲线；

根据所述曲线确定所述移动目标所在地面的平整度。

8.一种地面检测装置，其特征在于，所述装置包括：

检测点数据获取模块，用于通过固定设置于移动目标上的至少四个测距模块，获取至少四个地面检测点数据；

拟合模块，用于将至少四个地面检测点数据中不共线的至少三个地面检测点数据，作为拟合检测点数据，拟合得到理论地平面；

平整度确定模块，用于根据至少四个地面检测点数据中，除所述拟合检测点数据之外的验证检测点数据与所述理论地平面的位置关系，确定所述移动目标所在地面的平整度。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一项所述的地面检测方法。

10.一种地面检测系统，其特征在于，所述系统包括：

移动目标以及固定设置于移动目标上的至少四个测距模块，所述至少四个测距模块用于发射出射光线对地面进行检测，得到至少四个地面检测点数据；

电子设备，设置于移动目标中，或者设置于移动目标之外，所述电子设备可以实现如权利要求1-7中任一项所述的地面检测方法。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的地面检测方法。