[发明专利]一种减少仿真时间的辅助芯片设计方法

权利要求书

1.一种减少仿真时间的辅助芯片设计方法，其特征在于包括以下步骤：

S1、建立标准元件库，细分为S11、按工艺及功能收集各个工艺平台上已流片验证的芯片设计电路原理图及版图；

S12、提取原理图中以功能区分的标准电路模块及对应的版图，

S13、以功能代码结合性能参数的格式逐条生成元件库信息，任一元件库信息包含对应标准电路模块已成型的版图，且版图中预留有对应参数设定电阻、足量面积的空位，并汇总成为标准元件库；

S2、建立参考模型，按功能分类建立模拟集成电路的参考模型，所述参考模型包含自动化调用及组合连接的元件库信息、参数的填充空间以及部分需由人工设计的空白模块；

S3、芯片原理图设计，在开发工件中按所需功能选择参考模型并填写参数，生成原理图顶层电路及各个模块子电路，同时生成模块验证所需的表单，一并导入原理图编辑器完成原理图设计；

S4、版图设计，将完成设计的原理图导入版图设计工具，对应原理图中自动调用元件库信息所生成的标准电路模块，调用标准元件库中对应的版图并修改参数；对应原理图中需人工设计的空白模块绘制版图、验证并整合完整出图。

2.根据权利要求1所述减少仿真时间的辅助芯片设计方法，其特征在于：芯片原理图设计中导入原理图编辑器后包括步骤：S31、人工验证并确认所生成的原理图中自动调用元件库信息所生成的各个标准电路模块是否满足设计要求，填充表单；

S32、人工设计原理图中标记的空白模块，在各温度条件、各工艺偏差、输入电压电流变化及各种组合形式下的验证设计所得的模块是否满足设计要求，补全表单。

3.根据权利要求2所述减少仿真时间的辅助芯片设计方法，其特征在于：S32中设计所得部分具有通用性的电路模块，经验证后添加至标准元件库的对应工艺分类中。

4.根据权利要求3所述减少仿真时间的辅助芯片设计方法，其特征在于所述验证包括步骤：S321、验证对应S3设计的正确性，是否符合芯片设计的预期目标；

S322、验证参数的可调范围；

S323、从工艺上确认在版图上预留的空间内能够实现的参数范围；

S324、对输入可调参数后在版图预留的空间内生成电路模块进行自动化代码处理，并验证代码的正确性。

5.根据权利要求1所述减少仿真时间的辅助芯片设计方法，其特征在于：完成版图设计后全面进行各类验证并流片作业。

6.一种计算机存储介质，存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时能实现权利要求1至5中任一项所述的辅助芯片设计方法。