[发明专利]烃源岩有效厚度的确定方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了烃源岩有效厚度的确定方法、装置、电子设备及介质，该方法包括：分别获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度；建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系；基于实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系和未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的测井有效厚度，计算未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度。本发明基于已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度，建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系，进而计算未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度，实现准确计算非均值地层烃源岩有效厚度。

技术领域

本发明属于石油勘探开发领域，具体涉及一种非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

有效厚度又称纯产层，也称为有效层厚度，是指储油层中具有工业产油能力的那部分油层的厚度，即工业油井内具可动油的储集层的厚度。

在利用成因法进行油气地质资源量计算过程中，某一地层单元内的烃源岩有效厚度是一个重要的基础参数。对于碳酸盐岩烃源岩有机质丰度(Toc)下限，现普遍认识到，形成有规模的工业性油气藏，要满足Toc大于0.5％，(钟宁宁、2009，梁狄刚、2000)，即Toc大于0.5％为有效烃源岩。在确定Toc丰度下限后，对于常规的层状、均质性地层，通过实测Toc数据可以简单、直接的获得烃源岩有效厚度、泥地比等参数，然后成因法进行地质资源量计算。

但是这种方法存在的缺陷是：(1)对于非均质性的地层中，烃源岩非层状分布，不同于常规的层状分布砂泥岩岩性组合，在利用传统的有效烃源岩厚度确定方法时，在瘤状灰岩中，眼球部分呈椭圆状与眼皮部分三维空间内交互出现，非层状有序分布，钻井岩心获取的Toc(有机碳)测试数据，并不能直接用来进行烃源岩有效厚度的刻画；(2)地质资源量计算量大，需要的地质资源多。

综上，传统方法难以确定非均值地层烃源岩有效厚度，造成资源量计算困难。因此，特别需要提出一种方法能准确计算非均值地层烃源岩有效厚度。

发明内容

本发明的目的是提出一种能准确计算非均值地层烃源岩有效厚度的确定方法、装置、电子设备及介质。

第一方面，本发明提供一种非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，包括：分别获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度；基于所述实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度，建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系；基于所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系和未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的测井有效厚度，计算所述未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度。

可选的，所述岩性有效厚度包括岩性有效厚度最大值和岩性有效厚度最小值，当所述实测有效厚度小于或等于所述岩性有效厚度最大值且大于或等于所述岩性有效厚度最小值时，建立所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系。

可选的，所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系为：

h_实测＝k×h_测井

其中，h_实测为实测有效厚度，k为系数，h_测井为测井有效厚度。

可选的，通过实际测量获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度；通过岩心测量法获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的岩性有效厚度。

可选的，通过随机测量法和眼皮测量法分别测量所述岩性有效厚度最大值和岩性有效厚度最小值。

可选的，所述已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的Toc的含量大于第一阈值。

可选的，通过测井方法获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的的测井有效厚度。