[发明专利]烃源岩有效厚度的确定方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，包括：

分别获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度；

基于所述实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度，建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系；

基于所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系和未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的测井有效厚度，计算所述未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度。

2.根据权利要求1所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，所述岩性有效厚度包括岩性有效厚度最大值和岩性有效厚度最小值，当所述实测有效厚度小于或等于所述岩性有效厚度最大值且大于或等于所述岩性有效厚度最小值时，建立所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系。

3.根据权利要求2所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系为：

h_实测＝k×h_测井

其中，h_实测为实测有效厚度，k为系数，h_测井为测井有效厚度。

4.根据权利要求1所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，通过实际测量获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度；通过岩心测量法获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的岩性有效厚度。

5.根据权利要求4所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，通过随机测量法和眼皮测量法分别测量所述岩性有效厚度最大值和岩性有效厚度最小值。

6.根据权利要求4所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，通过测井方法获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的测井有效厚度。

7.根据权利要求4所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法，其特征在于，所述已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的Toc的含量大于第一阈值。

8.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

存储器，存储有可执行指令；

处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-3所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-3所述的非均质性地层烃源岩有效厚度的确定方法。

10.一种非均质性地层烃源岩有效厚度的确定装置，其特征在于，包括：

获取模块，分别获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度；

拟合关系建立模块，基于所述已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度，建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系；

实测有效厚度计算模块，基于所述实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系和未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的测井有效厚度，计算所述未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的的实测有效厚度。